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英国abi-SWA512集成电路测试仪

二维V-I动态阻抗端口测试通道:512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:512路,设备可以64通道为步进最大... 详细内容

英国abi-SWA1024大规模集成电路测试仪

二维V-I动态阻抗端口测试通道:1024路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:1024路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:1024路,设备可以64通道为步进最... 详细内容

英国abi-SWA2048大规模集成电路测试仪

二维V-I动态阻抗端口测试通道:2048路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:2048路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:2048路 详细内容

英国abi-AT256 A4全品种集成电路测试仪

二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路,二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路(最大可扩充至2048路),三维扫频V-I-F动态阻抗... 详细内容

英国abi-AT256 A4 pro4集成电路测试仪

英国abi_AT256 A4 pro4全品种集成电路筛选测试仪具备二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:25... 详细内容

英国abi-AT192全品种集成电路测试仪

最大测试IC管脚数:192pin,可以升级到256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz;扫描电压(V... 详细内容

英国abi-AT256全品种集成电路测试仪

最大测试IC管脚数:256pin;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz;扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.... 详细内容

英国abi-AT256 A4 pro2集成电路测试仪

英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪具备二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路;二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:128路;三维扫频... 详细内容

PT3200,ABI手持式线性集成电路测试仪

可测试16脚以内通用的模拟器件,包括运放,光耦,比较器,A/D、D/A,电压调节器及部分特殊模拟芯片.软件可升级;键入型号即可测试,结果显示在LCD屏上;可... 详细内容

PT3100,ABI记忆芯片测试仪

可测试32脚以内SRAM,DRAM,30线以内SIMM,SIP,测试容量:16K-116M;可自动测试芯片的好坏,也可先设定型号,再进行测试;提供SINGLE TEST,LOOP TEST,PASS ... 详细内容

PT3000,ABI手持式数字IC测试器

可扩充的内装芯片,几乎囊括所有40脚以下的数字芯片和存储器,接口芯片,MCU/MPU,软件不断升级;使用,操作简便,输入IC型号,按测试键,测试结果即显示在L... 详细内容

LinearMaster,ABI手持线性集成电路测试仪

内置元件库可以扩充升级;准确可靠的仿真测试;全面性测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息;查找未知型号元件;元件代换查询;在测试过程中,施加必要的... 详细内容

ChipMaster,ABI手持数字集成电路测试仪

ChipMaster手持数字集成电路测试仪循环测试-判定间歇性故障元器件更准确;采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障... 详细内容

LPICT-7A线性IC测试仪

桌上型设计,结构紧密,操作简单;2.16字9×7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如;开机自我侦测,确保测试工作的品质和稳定性;提供24PIN... 详细内容

LPICT-6C桌上型数字IC测试器

桌上型设计,结构紧密,操作简单;2.16字9×7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如;3.开机自我侦测,确保测试工作的品质和稳定性;可... 详细内容

Lp-2掌上型线性IC测试仪器

为测试线性 IC而设计;可测元件:OP、Operationgal Amplifiers,OPTO,Comparattors,REG, N555,Series,Transistor Array;轻小可携带,操作容易,可使用电... 详细内容

Lp-1掌上型数位IC测试仪器

为测试数字 IC而设计;可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44;轻小可携带,操作容易,可使用电池,非常省电;设有empty-load测试及自动电源开关装... 详细内容

GT2100A数字集成电路多参数测试仪

目前,对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试,已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较... 详细内容

ICT-33C+集成电路测试仪

器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏;器件型号识别:当不知被测器件的型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号;器件老... 详细内容

ICT-33C集成电路测试仪

器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏;器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型;器件老化测试:当怀疑... 详细内容

GT2200A模拟集成电路测试仪

GT2200A测试仪集功能测试,参数测试于一体,专门用于各种单运放,多运放和电压比较器的测量;功能测试,测量数据,管脚选择,数据比较等均由CPU完成,不需... 详细内容



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