ChipMaster手持数字集成电路测试仪资料下载
循环测试-判定间歇性故障元器件更准确采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温... 详细内容
LinearMaster手持式模拟集成电路测试仪资料下载
内置元件库可以扩充升级;准确可靠的仿真测试;全面性测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息;查找未知... 详细内容
英国ABI-AT系列全品种集成电路测试仪下载
AT256全品种集成电路测试仪最大测试管脚数:256;AT256全品种集成电路测试仪元器件测试-适用于所有类型的... 详细内容
英国ABI-AT128全品种集成电路测试仪
最大测试IC管脚数:128pin,可以升级到192/256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择:100Hz... 详细内容
英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪
最大测试IC管脚数:192pin,可以升级到256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择:100Hz,2... 详细内容
英国ABI-AT256全品种集成电路测试仪
最大测试IC管脚数:256pin;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz... 详细内容
LinearMaster,ABI手持线性集成电路测试仪
内置元件库可以扩充升级;准确可靠的仿真测试;全面性测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息;查找未知... 详细内容
ChipMaster,ABI手持数字集成电路测试仪
ChipMaster手持数字集成电路测试仪循环测试-判定间歇性故障元器件更准确;采用无条件或有条件循环测试... 详细内容
GT2100A数字集成电路多参数测试仪
目前,对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试,已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功... 详细内容
ICT-33C+集成电路测试仪
器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏;器件型号识别:当不知被测器件的型... 详细内容
ICT-33C集成电路测试仪
器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏;器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可... 详细内容









