大测试管脚:192脚

测试适用范围：
元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹)

测试原理(v-i曲线测试)：

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.

商品输入检验

不需要电子专业知识.
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定各种测试条件.
可提供完整的元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:

-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意: SENTRY不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

测试通道

标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。
升级模块：64通道
可扩充到192/256个测试通道。

用两种模式扫瞄:

•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。
•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

通用型PLCC转接器(用于测试有20～84脚的PLCC封装)

数据库

    用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。

结果比较型式:

将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较
• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

软件- 灵活性

1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,
2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件

报告

1)软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2)用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3)为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

针印(PinPrint)动态阻抗详细分析元件的管脚.

定制化的报告(PinPrint).

转接器

1)标准型:

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封装; 也有提供SENTRY校正工具组。

标准SOIC转接器

通用型:

用于SOIC及PLCC封装; 一个转接器即适用于各种芯片尺寸, 测试有20、28、32、44、52、68、84脚的集成电路。

一个转接器即适用于测试宽0.15”～0.6”达44脚的集成电路。

客制型:

可订制各种封装的转接器, 包括: BGA、QFP; 请进一步洽询, 以设计符合您需求的转接器。

BGA插座转接器

技术规格

技术参数:SENTRY-AT256

仪器用途一
翻新及二手器件检测

• 可由仓库部门在收到集成电路时进行检查, 以确保收到的集成电路是真品; 商品输入部门的员工不需要电子知识即可操作这个系统。
• 检查可能伪造的集成电路, 并分析供货商的测试数据。用户可应用完整的报告, 确定问题的来源。

翻新及二手器件检测仪

能快速简单检测出翻新IC及集成电路测试的解决方案。

透过精密的PinPrint(针印)测试算法则,能够辨识出有不同内部结构或根本没有结构, 甚至是由不同厂家所制造的集成电路。

他就像您的电子守卫, 守卫在您生产设备之入口, 不受伪造元器件之渗透伤害。

何谓伪造翻新集成电路

Counterfeit [koun-ter-fit](形容词): 意思是仿造, 以便虚伪不实地假装是真品。

    制造膺品(仿冒品)集成电路是非法的, 会出现(仿冒品)是因为电子零件的可转让。全球任何需要制造PCB集成电路的公司都在承担这个风险, 也或许曾经收到过大批的”不良”元器件。

    仿冒可透过各种过程达成: 在极不可靠的过程里, 把集成电路从报废/弃置的电路板中取出, 接着作表面处理维修; 再加上伪相关信息于集成电路上, 包括制造厂商标, 然后拿来当作真品卖给粗心的买家。另一个方法则是真的凭正规的制造能力, 在标准工时以外的大夜班(ghost shift)生产集成电路, 然而, 以那种方式生产的芯片含有许多制造上的瑕疵, 有些甚至没有硅片(silicon die)。

    很不幸地, 得一直等到把它们放在PCB上, 在生产团队对完整的组装进行第一次测试时, 才可能鉴别到仿造的集成电路。如此将导致昂贵的过程－辨识问题集成电路、再把它们从生产中的所有电路板上拿掉。在某些情况下, 甚至得把整批成品回收回工厂。

    5年来, 仿冒集成电路的举发呈倍数地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球贸易总额的8%以上, 相当于损失60亿的销售额。

最大测试管脚数:256

测试适用范围：

元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹)

测试原理(v-i曲线测试)：

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.

商品输入检验

不需要电子专业知识.
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定各种测试条件.
可提供完整的元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:

-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意: SENTRY不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

测试通道

标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。
升级模块：64通道
可扩充到192/256个测试通道。

用两种模式扫瞄:

•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。
•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

通用型PLCC转接器(用于测试有20～84脚的PLCC封装)

数据库

    用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。

结果比较型式:

将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较
• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

软件- 灵活性

1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,
2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件

报告

1)软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2)用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3)为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

针印(PinPrint)动态阻抗详细分析元件的管脚.

定制化的报告(PinPrint).

转接器

1)标准型:

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封装; 也有提供SENTRY校正工具组。

标准SOIC转接器

通用型:

用于SOIC及PLCC封装; 一个转接器即适用于各种芯片尺寸, 测试有20、28、32、44、52、68、84脚的集成电路。

一个转接器即适用于测试宽0.15”～0.6”达44脚的集成电路。

客制型:

可订制各种封装的转接器, 包括: BGA、QFP; 请进一步洽询, 以设计符合您需求的转接器。

BGA插座转接器

技术规格

技术参数:SENTRY-AT256

仪器用途一

翻新及二手器件检测

• 可由仓库部门在收到集成电路时进行检查, 以确保收到的集成电路是真品; 商品输入部门的员工不需要电子知识即可操作这个系统。
• 检查可能伪造的集成电路, 并分析供货商的测试数据。用户可应用完整的报告, 确定问题的来源。
 
翻新及二手器件检测仪

能快速简单检测出翻新IC及集成电路测试的解决方案。
透过精密的PinPrint(针印)测试算法则,能够辨识出有不同内部结构或根本没有结构, 甚至是由不同厂家所制造的集成电路。
他就像您的电子守卫, 守卫在您生产设备之入口, 不受伪造元器件之渗透伤害。
 
何谓伪造翻新集成电路

    Counterfeit [koun-ter-fit](形容词): 意思是仿造, 以便虚伪不实地假装是真品。

    制造膺品(仿冒品)集成电路是非法的, 会出现(仿冒品)是因为电子零件的可转让。全球任何需要制造PCB集成电路的公司都在承担这个风险, 也或许曾经收到过大批的”不良”元器件。

    仿冒可透过各种过程达成: 在极不可靠的过程里, 把集成电路从报废/弃置的电路板中取出, 接着作表面处理维修; 再加上伪相关信息于集成电路上, 包括制造厂商标, 然后拿来当作真品卖给粗心的买家。另一个方法则是真的凭正规的制造能力, 在标准工时以外的大夜班(ghost shift)生产集成电路, 然而, 以那种方式生产的芯片含有许多制造上的瑕疵, 有些甚至没有硅片(silicon die)。

    很不幸地, 得一直等到把它们放在PCB上, 在生产团队对完整的组装进行第一次测试时, 才可能鉴别到仿造的集成电路。如此将导致昂贵的过程－辨识问题集成电路、再把它们从生产中的所有电路板上拿掉。在某些情况下, 甚至得把整批成品回收回工厂。

    5年来, 仿冒集成电路的举发呈倍数地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球贸易总额的8%以上, 相当于损失60亿的销售额。

产品简介：

　　目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低，用这类仪器测试通过后的IC，有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼!

GT2100A数字集成电路多参数测试仪,帮助您解决这类烦恼！

GT2100A 数字集成电路多参数测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。
数字集成电路多参数测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、部队、IC经销商使用。

系统的主要特点:

1． 测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
2． 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
3． 真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
4． 对IC输入电流、功耗电流测试。
5． 输入漏电流及交叉漏电流测试。
6． 测试过程无须人工干预。
7． 用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
8． 可自动识别74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型号。

产品主要性能:

在功能测试的基础上
1. 测试器件的输入端注入电流。
2.测试器件的输入端交叉漏电流。
3.测试器件的输出端“三态”及“OC”门。
4. 测试器件的输出负载电流。
5. 测试器件的功耗电流。
6.查找未知芯片型号。
7. 可以单次测试，也可以循环测试.
8.可自动识别74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一个“C”字（此时被测器件电源为TTL电源）。

多值测试参数: 

1.8种可选择的测试电源。
2.根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。
3. 多种测试电压比较值。
4. 功耗测试。
以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。

测试模式: 

1.模式O： 全组合参数测试。
2.模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。
3.模式D： 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。
4.模式E： 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。
5.模式F： 自编程测试。

测试范围及测试品种: 28Pin

1. 54 系列；4500 系列；
2. RAM 256K bit
3.74 系列；40000 系列；
4. EPROM 64K bit
5. 4000 系列；C00 系列。
6.光耦

产品简介 ：
 
器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。
器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。
内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。
微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。
ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。
ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。

适用范围
 
维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
破译被抹去型号集成电路的真实型号。
烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
开发各类智能电子产品，调试程序。
检验新购器件的质量。
可测器件种类
 
TTL74、54系列。
TTL75、55系列。
CMOS40、45、14系列。
单片机系列。
EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。
光耦合器，数码管系列。
常用微机外围电路系列。
其它常用电路及用户提供系列。
运算放大器系列（单运放、双运放、四运放）。
三端稳压器系列（78XX，79XX，317，337）。