PT3100,ABI记忆芯片测试仪,仪器仪表销售网

仪器仪表销售网

PT3100,ABI记忆芯片测试仪

PT3100,ABI记忆芯片测试仪

产品简介:

1.可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP,测试容量:16K— 116M。
2.可自动测试芯片的好坏,也可先设定型号,再进行测试。
3.提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。
4.细致的设置菜单,可设定测试电压及测试速度及是否自动关机等。
5.可准确显示故障位置 。
6.带有4*20字 8*5点的LCD显示屏。
7.可使用电源适配器,也可使用电池。

转载请注明文章转载自:仪器仪表销售网 [http://www.yiqishop.net.cn]
本文链接地址:PT3100,ABI记忆芯片测试仪

英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪

Comments are closed.




Copyright © 2017-2018.北京金三航科技发展有限公司 版权所有

直拨:010-82573333

E_mail:h4040@163.com

Copyright © 仪器仪表销售网 and yiqishop All Rights Reserved.

Powered by yiqishop.net.cn and Theme by yiqishop

京ICP备05068049号

京公网安备 11010802020646号