PT3100,ABI记忆芯片测试仪

产品简介:
1.可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP,测试容量:16K--- 116M。
2.可自动测试芯片的好坏,也可先设定型号,再进行测试。
3.提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。
4.细致的设置菜单,可设定测试电压及测试速度及是否自动关机等。
5.可准确显示故障位置 。
6.带有4*20字 8*5点的LCD显示屏。
7.可使用电源适配器,也可使用电池。
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