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Lp-1掌上型数位IC测试仪器

Lp-1掌上型数位IC测试仪器

产品简介:
1. 为测试数字 IC而设计
2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44
3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电
4. 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5. 平均测试时间:0.8秒

规格
1. 显示:16×1字LCD
2. 测试元件接脚数:14到24PIN

选择配件: *SOP adaptor

支援元件

·74 Serial ·40 Serial ·45 Serial ·41 Serial ·44 Serial

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英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪

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