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ICT-33C+集成电路测试仪

ICT-33C+集成电路测试仪 

产品简介 :
 
器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏。
器件型号识别:当不知被测器件的型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。
器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致,引脚排列一致的器件型号。
内部RAM缓冲区修改:仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。
微机通讯:仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。
ROM器件读入:仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。
ROM器件写入:仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。

适用范围
 
维修各类电子产品,判断其集成电路故障。
破译被抹去型号集成电路的真实型号。
烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
开发各类智能电子产品,调试程序。
检验新购器件的质量。
可测器件种类
 
TTL74、54系列。
TTL75、55系列。
CMOS40、45、14系列。
单片机系列。
EPROM、EEPROM、RAM、FLASHROM系列。
光耦合器,数码管系列。
常用微机外围电路系列。
其它常用电路及用户提供系列。
运算放大器系列(单运放、双运放、四运放)。
三端稳压器系列(78XX,79XX,317,337)。

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英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪

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