GT2200A模拟集成电路测试仪
GT2200A模拟集成电路多参数测试仪简介:
GT2200A测试仪集功能测试、参数测试于一体,专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量 。
功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成,不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数,或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单,功能齐全,可按需要选取测量参数,测量结果不受人为因素影响。
GT2200A模拟集成电路多参数测试仪产品特点:
1.根据IC型号自动切换测试,无需人工转接线更换测试盒。
2.具有自校准功能,测试参数基准稳定。
3.测试参数值读取快洁、直观。
4.测试操作简单。
5.它可以对线性IC的11项交直流参数进行测试及功能测试。
6.提供自适应测试方式:以样片为基准,对同型号IC 进行筛选测试进行快速筛选。
GT2200A模拟集成电路多参数测试仪基本使用方法:
先取一个“有代表”性(满足使用要求)的芯片进行“学习”,即将该芯片的各种应测数据保存起来。再对其他芯片进行有选择性的“比较”测试,即对您所关心的数据进行自动测量,并与“学习”数据进行比较,显示出优劣结果。操作十分简单,容易掌握;尤其是大批量筛选更为简单,优于样板的就通过,不必一一读取测量结果,并逐一查看其是否符合要求。若想看测量结果,也可用按键逐一翻看。
应该说它即可满足生产筛选的需要,也可满足科研开发使用。
| 测试参数 | 符号 | 单位 | 误差 |
| 失调电压 | Vio | mV | <5% |
| 失调电流 | Iio | nA | <5% |
| 偏置电流 | Iib | nA | <5% |
| 静态功耗 | Pd | mW | <5% |
| 开环增益 | Avd | db | <5% |
| 共模抑制比 | Kcmr | db | <5% |
| 输入电阻 | Rid | KΩ | <10% |
| 输出电阻 | Ros | Ω | <10% |
| 增益带宽积 | Gbw | KH | <5% |
| 电源电压抑制比 | Ksvr | db | <5% |
| 输出电压峰-峰值 | Vopp | V | <5% |
(销售电话:010-51662244,82573333)
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