产品综述：

数字集成电路测试功能模块(ABI-6400)

在BM-8400中提供了1个数字集成电路功能测试模块,其具有64个量测通道,可提供多种的量测功能.这些通道可提供全面性故障诊断能力,包括数字集成电路功能测试(在线/离线测试),集成电路接脚的连接状态和电压值的量测,并连同在无电源供给的情形下使用的VI曲线的测试功能.

数字集成电路测试的高级测试模块(ABI-6500)

   该模块是ABI-6400模块的升级产品,是数字集成电路测试的高级测试模块,系统提供信息更全面,更准确.测试条件更丰富,仿真测试输入条件电压电流可以根据需要-10V~+10V之间自己定义,检测输出的电平也可以自己定义.ATM模块可以更好的检测测试库以外的元器件,实现电路板仿真测试更加方便快捷.
 

模拟集成电路测试功能模块(ABI-2400/2500)
 

在模拟集成电路测试仪中允许模拟集成电路和分立集成电路进行功能测试.所有常见的模拟集成电路皆可以测试,系统会依照集成电路在PCB上的电路型态来作功能测试,不需要编辑程序或参考电路图.在该模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能,电路板或集成电路可在无电源供给的情形下,得到清楚易懂的图形化测试结果.

综合型基础仪表模块(ABI-6300)
 

在ABI-6300仪表模块中,提供了多种高规格的测试及量测用的仪表功能在同一模块之中.此种设计方式,适合用于教育及一般用途的电子量测使用.其模块提供了频率/事件计数器,数字存储式示波器,信号产生器,双信道的数字电表,固定式电源供应器及通用型的I/O接口.且操作者可以利用软件的自定仪器平台功能,来设计客制化的仪器操作接口.
 

数字可调式电源供应器模块(ABI-1100)
 

此模块可提供集成电路或电路板在进行测试时所必要的电源.其具有三组可调式电源输出,并同时具有过电压及过载保护功能.
 

主要功能

Digital IC Test 数字集成电路测试功能

    具64个量测通道 (64通道X1组模块).八组输出隔离信号.一组5V /5A的电源输出.可进行集成电路的功能测试、电压测量、接脚连接测试、温度指数及V-I曲线量测.内建逻辑时序信号测量功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等.并可针对数字逻辑位准进行调整,另外可自动定位集成电路接脚及电路状态比对功能.

 Analogue IC Test 模拟集成电路测试功能

    具有24组测试通道及外加一组的分离集成电路测试信道.内建集成电路数据库可测量模拟放大器、比较器、光耦合器、晶体管、二极管及特殊功能的集成电路.可针对模拟集成电路进行功能测、连接状态测试及电压测量.并具有自动定位集成电路接脚及电路状比对功能.
 
Digital V-I Test 数字式V-I曲线测试功能
 
    具128量测通道(64通道X2个模块).可调整测量信号电压范围.针对数字集成电路可达到有效的测量结果.
 
Analogue V-I Test 模拟式V-I曲线测试功能

    具有24量测通道及外加二组独立测量通道.其具有可调频率、可调电压、可调输出阻抗及选择测量波形功能.并可选择波形显示模式:V-I、V-T及I-T三种显示模式.二组同步可变脉宽的信号输出.内建测量线路补偿功能.具有外接盒可供选配.
 
Matrix V-I 矩阵式V-I测试功能

    具有24组矩阵式的测量通道.单一波形多重显示的方式，并可直接进行测量波形的比对功能,并以条状图的方式来显示各通道信号的差异百分比.
 
Graphical Test Generator 数字时序编辑功能

    具有64个信号通道可供编辑数字时序信号,每个通道可设定输出、输入及双向状态.并可读取数字向量信号、并且储存之后再进行比对.
 
Floating Digital Multimeter双通道万用电表功能

    具二组自动换文件的测量通道,可测量DC及AC电压信号达400V,可测量DC及AC电流信号可达2A.阻抗测量可达20M欧姆,各信道具有统计功能,可显示最大值、最小值及平均值.另外提供一组计算器,可针对所测量到的数值进行实时的计算并记录.
 
Universal I/O 通用型输出/输入通道功能

    具有四组模拟信号通道及四组数字信号通道.模拟信号通道可设定成为电压输出、电压量测、电流输出及电流测量四种工作模式.其电压范围为-9V to +9V,而电流范围可达20mA.数字信号通道可设定为输出逻辑HIGH、逻辑LOW或是侦测目前通道的信号逻辑状态,其输出及输入能力是以TTL位准为标准.
 
Short Locator 短路电阻测量功能

    具有三段低电阻测量范围,可以图示及声音来判断目前短路的位置.
 
Auxiliary Power Supply 固定型电源输出功能

    具三组固定式的电源输出,分别为:5V/0.5A输出,+9V/ 100mA输出及-9V/100mA输出.各信道都具有电流值监测功能.
 
Variable Power Supply 可调型电源输出功能

    逻辑电源输出的可调电压范围为2.5V到6V并具有过电压跳脱功能.另外有可调式的正负电源输出,其可电压可调范围为-24V到+24V.其输出电流能力可达1A.
 
模块介绍

英国ABI-6400/ABI-6500数字集成电路测试模块(ABI-6400和ABI-6500任选其一)

英国ABI-6400数字集成电路测试模块

英国ABI-6500数字集成电路测试模块

主要功能:

64通道数字集成电路在线、离线功能测试
64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)
强大的元器件和整板仿真测试功能
阈值电平零界点扫描测试
短路追踪测试(低电阻测试)
实时显示输出逻辑电平值
存储器功能测试
数字时序编辑功能
未知器件型号查询
程控电源供电
 
测试准确-源自先进的测试技术

同一器件同一时间完成多种测试:功能测试,V-I曲线测试,温度拐点系数测试,连接状态测试,管脚电压测试等.
图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成,方便快捷的建立起测试库中没有的元件库.
整板测试非常简单,通过图形化的测试库编辑器,根据电路板原理,定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号,快速建立板测试库,快速批量检测电路板的功能.
逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的故障元器件.
逻辑电平阈值自定义.可以设定非标准的逻辑电平阈值,检查不稳定的元器件.
短路电阻测量功能:三段低电阻测量范围,可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小,此功能可以用以检查电路板线路的电阻值,及检查短路点.
输出逻辑时序图形显示,具体时序电压值显示,方便掌握具体测试信息.
V-I曲线测试功能:可针对元器件直接进行测试,曲线电压扫描范围:-10v~+10v;测试电压可由2.5到5V步阶式调整,可调整为非对称电压扫描信号,正负电压可以不一致,例如:-2.5v~+10v 最大限度地保证测试的安全性.其输出电流由系统自动调整设定.扫描信号可达几十种.
V-I曲线温漂拐点系数测定,可以观测曲线拐点温度变化系数,易于发现一些器件的非固定性故障.方便找出不稳定器件.
系统可以在64路的基础上以64通道为单位进行通道扩充,直至256通道.6500可以扩充到2048路.

产品特征:

中英文测试软件,USB接口.
数字测试通道:64路(可扩充到256通道).
模拟测试通道64路(可扩充到256通道).
1路v-i探棒测试隔离通道:4路.总线竞争信号隔离功能:用于解除总线竞争,确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路总线竞争隔离信号,6500可提供8路隔离信号.
能够对多种逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线功能测试;测试库达上万种元器件,可以通过图像化的编辑器自定义测试库,可以快速扩充测试库配有离线测试盒,快速测试批量元器件.离线测试和在线测试功能完全一致.
IC型号识别:标识不清或被擦除型号的器件,可”在线”或”离线”进行型号识别测试.
读写存储器功能测试5V/5A的直流电源程控自动输出,具有过电压及过电流保护功能.由系统自动控制输出,并可设定输出的延迟时间.方便各种类型电路板的测试。
数字集成电路测试中集电极开路，自动上加上拉电阻。
V-I曲线测试具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试LSI大规模集成电路在线功能及状态分析测试：可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。

数字集成电路测试参数规格：

电源供给规格参数：

英国ABI-6400与ABI-6500参数主要区别:

英国ABI-2400/ABI-2500模拟集成电路测试模块

特点:

含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.
测量通道数:24个独立测试通道
驱动输出电压:-12V~+12V
驱动输出电流:200mA
可测量输入电压:±24V
输入阻抗:大于1MΩ
IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs
IC测试方式:在线测试,若工作在OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)
晶体管测试种类:晶体管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件测量通道可轻易的让使用者完成分立元器件的测量工作,其内部提供了许多测量方式,可让使用者用于许多类型的分立元器件测试,包含功率型或高增益的分立元器件等.
 
特点:

适合模拟及数字集成电路的测试.
可进行在线或离线测试与分析.
具有24路测试通道.
安全性高的无电源测量方式.
矩阵式V-I曲线测试,可针对管脚间的阻抗曲线进行测试.
在进行离线测试时,可针对芯片内部进行阻抗分析.
自动对比及储存曲线.
可切换VI,VT及IT三种显示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试.
可进行光电耦合器及继电器元器件的速度功能测试.
具有二组信号源,可输出直流信号,针对光电耦合器及继电器进行稳态测试.
并且显示相似度百分比,具有业界中最多的信号频率文件位,对于故障的查找有相当大的帮助.
测试频率高达到12kHz,非常适合测试电感及高频电容器件.
本系统具备自动信号补偿功能,可针对测试环境及夹具进行自校测试,以防止量测信号失真.
可由软件来进行维修日志的编写.
可由软件加入图片,用来清楚的表示量测位置及电路板样式.
可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作,也可安装在PC内来节省所占的空间.

测试参数：

功能强大的2500
含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.
测量通道数:24个独立测试通道
驱动输出电压:-12V~+12V
驱动输出电流:200mA
可测量输入电压:±24V
输入阻抗:大于1MΩ
IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs
IC测试方式:在线测试,若工作在OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)
晶体管测试种类:晶体管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件测量通道可轻易的让使用者完成分立元器件的测量工作,其内部提供了许多测量方式,可让使用者用于许多类型的分立元器件测试,包含功率型或高增益的分立元器件等.

6300多功能仪表模块

1.数字存储示波器

2.信号发生器

3.通用型接口通道

 4.数字隔离双通道万用表

5.频率计/事件计数器

6.电源输出

1100可调电源模块

电源输出可由软件控制

可调式逻辑电压通道
可调整2.5V至6V的电压
最小电压(流)调整解析:0.01V & 0.01A
可调式正电压通道
可调整电压:0～+24V 电流范围:50mA～1.5A
最小电压(流)调整解析度:0.01V & 0.01A
可调式负电压通道
可调整电压:0～-24V 电流范围:50mA～1.5A
最小电压(流)调整解析度:0.01V & 0.01A
 

    系统配有专用Premier 操作软件,系统中的所用测试项目可以同时操作使用,并按照需求制定测试工作流程,记录下测试者每一步的测试数据,形成宝贵的标准测试程序
 
    标准测试程序功能 (TestFlow) 可以将电路板的故障定位工作,转换成一个循序渐进的标准程序,并降低测量的不准确性并且记录所有的测量参数. 技术工程人员可以自行编写一个标准的测试程序,或经由TestFlow为特定的电路板设定标准的量测步骤及记录测量的结果. 工程人员也可以加入电路图或实际的电路板图片,甚至是加入一些指示来帮助检测工作的进行. 半熟练的工程人员只需要按步就班的依指示及图示来操作设备,便可以完成所有的检测工作.

产品综述

数字集成电路测试的高级测试模块(ATM)

    提供了1个数字集成电路功能测试模块,其具有64个量测通道,可提供多种的量测功能.这些通道可提供全面性故障诊断能力,包括数字集成电路功能测试(在线/离线测试),集成电路接脚的连接状态和电压值的量测,并连同在无电源供给的情形下使用的VI曲线的测试功能.
 
    该模块是升级产品,是数字集成电路测试的高级测试模块,系统提供信息更全面,更准确.测试条件更丰富,仿真测试输入条件电压电流可以根据需要-10V~+10V之间自己定义,检测输出的电平也可以自己定义.6500模块可以更好的检测测试库以外的元器件,实现电路板仿真测试更加方便快捷.
 

模拟集成电路测试功能模块(AICT)

   在模拟集成电路测试仪中允许模拟集成电路和分立集成电路进行功能测试.所有常见的模拟集成电路皆可以测试,系统会依照集成电路在PCB上的电路型态来作功能测试,不需要编辑程序或参考电路图.在该模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能,电路板或集成电路可在无电源供给的情形下,得到清楚易懂的图形化测试结果.2500模块包含标准模拟器件参数测试库。

数字可调式电源供应器模块(VPS)

此模块可提供集成电路或电路板在进行测试时所必要的电源.其具有三组可调式电源输出,并同时具有过电压及过载保护功能.
 
Digital IC Test 数字集成电路测试功能

    具64个量测通道 (64通道X1组模块).八组输出隔离信号.可进行集成电路的功能测试、电压测量、接脚连接测试、温度指数及V-I曲线量测.内建逻辑时序信号测量功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等.并可针对数字逻辑位准进行调整,另外可自动定位集成电路接脚及电路状态比对功能.
 
Analogue IC Test 模拟集成电路测试功能

具有24组测试通道及外加一组的分离集成电路测试信道.内建集成电路数据库可测量模拟放大器、比较器、光耦合器、晶体管、二极管及特殊功能的集成电路.可针对模拟集成电路进行功能测、连接状态测试及电压测量.并具有自动定位集成电路接脚及电路状比对功能.
 
Digital V-I Test 数字式V-I曲线测试功能

具64量测通道(64通道X1个模块).可调整测量信号电压范围.针对数字集成电路可达到有效的测量结果.
 
Analogue V-I Test 模拟式V-I曲线测试功能
 
具有24量测通道及外加二组独立测量通道.其具有可调频率、可调电压、可调输出阻抗及选择测量波形功能.并可选择波形显示模式:V-I、V-T及I-T三种显示模式.二组同步可变脉宽的信号输出.内建测量线路补偿功能.具有外接盒可供选配.
 
Matrix V-I 矩阵式V-I测试功能

具有24组矩阵式的测量通道.单一波形多重显示的方式，并可直接进行测量波形的比对功能,并以条状图的方式来显示各通道信号的差异百分比.
 
Graphical Test Generator 数字时序编辑功能

具有64个信号通道可供编辑数字时序信号,每个通道可设定输出、输入及双向状态.并可读取数字向量信号、并且储存之后再进行比对.
 
Short Locator 短路电阻测量功能
 
具有三段低电阻测量范围,可以图示及声音来判断目前短路的位置.
 
Variable Power Supply 可调型电源输出功能

逻辑电源输出的可调电压范围为2.5V到6V并具有过电压跳脱功能.另外有可调式的正负电源输出,其可电压可调范围为-24V到+24V.其输出电流能力可达1A.
 
模块介绍

ATM数字集成电路测试模块

主要功能:

64通道数字集成电路在线、离线功能测试
64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)
强大的元器件和整板仿真测试功能
阈值电平零界点扫描测试
短路追踪测试(低电阻测试)
实时显示输出逻辑电平值
存储器功能测试
数字时序编辑功能
未知器件型号查询
程控电源供电
 
测试准确-源自先进的测试技术

同一器件同一时间完成多种测试:功能测试,V-I曲线测试,温度拐点系数测试,连接状态测试,管脚电压测试等.
图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成,方便快捷的建立起测试库中没有的元件库.
整板测试非常简单,通过图形化的测试库编辑器,根据电路板原理,定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号,快速建立板测试库,快速批量检测电路板的功能.
逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的故障元器件.
逻辑电平阈值自定义.可以设定非标准的逻辑电平阈值,检查不稳定的元器件.
短路电阻测量功能:三段低电阻测量范围,可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小,此功能可以用以检查电路板线路的电阻值,及检查短路点.
输出逻辑时序图形显示,具体时序电压值显示,方便掌握具体测试信息.
V-I曲线测试功能:可针对元器件直接进行测试,曲线电压扫描范围:-10v~+10v;测试电压可由2.5到5V步阶式调整,可调整为非对称电压扫描信号,正负电压可以不一致,例如:-2.5v~+10v 最大限度地保证测试的安全性.其输出电流由系统自动调整设定.扫描信号可达几十种.
 

产品特征

中英文测试软件,USB接口.
数字测试通道:64路(可扩充到256通道).
模拟测试通道64路(可扩充到256通道).
1路v-i探棒测试隔离通道:4路.总线竞争信号隔离功能:用于解除总线竞争,确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路总线竞争隔离信号,6500可提供8路隔离信号.
能够对多种逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线功能测试;测试库达上万种元器件,可以通过图像化的编辑器自定义测试库,可以快速扩充测试库配有离线测试盒,快速测试批量元器件.离线测试和在线测试功能完全一致.
IC型号识别:标识不清或被擦除型号的器件,可”在线”或”离线”进行型号识别测试.
读写存储器功能测试5V/5A的直流电源程控自动输出,具有过电压及过电流各种类型电路板的测试。
数字集成电路测试中集电极开路，自动上加上拉电阻。
    V-I曲线测试具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试LSI大规模集成电路在线功能及状态分析测试：可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。
 
数字集成电路测试参数规格：

英国ABI-2400/ABI-2500模拟集成电路测试模块

特点:

含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.
测量通道数:24个独立测试通道
驱动输出电压:-12V~+12V
驱动输出电流:200mA
可测量输入电压:±24V
输入阻抗:大于1MΩ
IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs
IC测试方式:在线测试,若工作在OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)
晶体管测试种类:晶体管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件测量通道可轻易的让使用者完成分立元器件的测量工作,其内部提供了许多测量方式,可让使用者用于许多类型的分立元器件测试,包含功率型或高增益的分立元器件等.
 
特点:

适合模拟及数字集成电路的测试.
可进行在线或离线测试与分析.
具有24路测试通道.
安全性高的无电源测量方式.
矩阵式V-I曲线测试,可针对管脚间的阻抗曲线进行测试.
在进行离线测试时,可针对芯片内部进行阻抗分析.
自动对比及储存曲线.
可切换VI,VT及IT三种显示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试.
可进行光电耦合器及继电器元器件的速度功能测试.
具有二组信号源,可输出直流信号,针对光电耦合器及继电器进行稳态测试.
并且显示相似度百分比,具有业界中最多的信号频率文件位,对于故障的查找有相当大的帮助.
测试频率高达到12kHz,非常适合测试电感及高频电容器件.
本系统具备自动信号补偿功能,可针对测试环境及夹具进行自校测试,以防止量测信号失真.
可由软件来进行维修日志的编写.
可由软件加入图片,用来清楚的表示量测位置及电路板样式.
可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作,也可安装在PC内来节省所占的空间.

测试参数：

功能强大的2500
含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.
测量通道数:24个独立测试通道
驱动输出电压:-12V~+12V
驱动输出电流:200mA
可测量输入电压:±24V
输入阻抗:大于1MΩ
IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs
IC测试方式:在线测试,若工作在OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)
晶体管测试种类:晶体管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件测量通道可轻易的让使用者完成分立元器件的测量工作,其内部提供了许多测量方式,可让使用者用于许多类型的分立元器件测试,包含功率型或高增益的分立元器件等.

1100可调电源模块

电源输出可由软件控制

可调式逻辑电压通道
可调整2.5V至6V的电压
最小电压(流)调整解析:0.01V & 0.01A
可调式正电压通道
可调整电压:0～+24V 电流范围:50mA～1.5A
最小电压(流)调整解析度:0.01V & 0.01A
可调式负电压通道
可调整电压:0～-24V 电流范围:50mA～1.5A
最小电压(流)调整解析度:0.01V & 0.01A
 

ABI-8200包含2个重要测试模块：ABI-6400+ABI-2400

模块一：ABI-6400的技术参数

6400单独成为测量设备的外形

离线测试盒

主要测试功能：

1)64通道数字集成电路在线、离线功能测试
2)64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)
3)强大的元器件和整板仿真测试功能
4)阈值电平零界点扫描测试
5)短路追踪测试(低电阻测试)
6)实时显示输出逻辑电平值
7)存储器功能测试
8)数字时序编辑功能
9)未知器件型号查询
10)程控电源供电,可设定输出的延迟时间
 
产品特征描述
 
1)中英文测试软件，产品体积小，重量轻，USB接口，适合携带
2)数字测试通道:64路(可扩充到256通道).
3)模拟测试通道64路，即64路V-I曲线测试(可扩充到256通道). 1路v-i探棒测试
4)隔离通道:4路.总线竞争信号隔离功能:用于解除总线竞争，确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路总线竞争隔离信号。
5)能够对多种逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线功能测试；可以通过图像化的编辑器自定义测试库，可以快速扩充测试库
6)配有离线测试盒，快速测试批量元器件。离线测试和在线测试功能完全一至。
7)IC型号识别：标识不清或被擦除型号的器件，可“在线”或“离线”进行型号识别测试。
8)读写存储器功能测试:可针对记忆容量在2k×8到256k×8的EPROM进行读取,对比及将资料存入电脑中,可进行在线或离线测试.可采取在线(离线)学习/比较的测试方法，先把好板上EPROM中的程序读出来，保存到计算机上，再和坏板上的相同器件中的程序进行比较测试；测试结果定位到存储单元地址上，并打印出该地址正确和错误的代码
9)5V/5A的直流电源程控自动输出,具有过电压及过电流保护功能.由系统自动控制输出,并可设定输出的延迟时间.方便各种类型电路板的测试。
10)数字集成电路测试中集电极开路，自动上加上拉电阻。
11)V-I曲线测试具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试
12)LSI大规模集成电路在线功能及状态分析测试：可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。
 
测试准确-源自先进的测试技术

1.同一器件同一时间完成多种测试：功能测试，V-I曲线测试，曲线拐点温度变化系数，各个管脚电压值测量,管脚连接状态测量显示,
2.图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成，方便快捷的建立起测试库中没有的元件库
3.整板测试非常简单，通过图形化的测试库编辑器，根据电路板原理，定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号，快速建立板测试库，快速批量检测电路板的功能。
4.逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的错误结果.
5.逻辑电平阈值自定义。可以设定非标准的逻辑电平阈值，检查不稳定的元器件。
6.短路电阻测量功能：三段低电阻测量范围，可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小，并自动探棒校正功能。此功能可以用以检查电路板线路的电阻值，及检查短路点。
7.输出逻辑时序图形显示、具体时序电压值显示,方便掌握具体有用测试信息。
8.V-I曲线测试功能:可针对元件直接进行测试，曲线电压扫描范围：-10v~+10v；测试电压可由2.5到5V步阶式调整, 可调整为非对称电压扫描信号，正负电压可以不一至，例如：-2.5v~+10v 最大限度地保证测试的安全性。其输出电流由系统自动调整设定.扫描信号可达几十种。
9.V-I曲线温漂拐点系数测定，可以观测曲线拐点温度变化系数，易于发现一些器件的非固定性故障。方便找出不稳定器件.
10.系统可以在64路的基础上以64通道为单位进行通道扩充，直至256通道
 
英国ABI-6400电路板故障检测仪技术参数：

模块二：ABI-2400的技术参数

2400单独成为测量设备的外形

 ABI2400电路板故障检测仪特点：
 
1)适合数字及模拟集成电路的测试
2)可进行在线或离线测试与分析
3)具有24路测试通道+2路探棒测试
4)安全性高的无电源测量方式
5)矩阵式V-I曲线测试模式, 可针对管脚间的阻抗曲线进行测试
6)在进行离线测试时, 可针对芯片内部进行阻抗分析
7)自动对比及储存曲线,
8)可切换VI,VT及IT三种显示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件测试
9)可设定同步脉冲信号的宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试
10)可进行光耦合器及继电器元器件的速度功能测试
11)具有二组信号源, 可输出直流信号, 针对光电耦合器及继电器进行稳态测试.
12)曲线相似度百分比显示，具有业界中最多的测试条件设计, 大大提高了故障诊断能力.
13)测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件
14)本系统具备自动信号补偿功能, 可针对测试环境及夹具进行自校测试, 以防止测量信号失真.
15)可由软件来进行维修日志的编写
16)可由软件加入图片, 用来清楚的表示量测位置及电路板图像.
 
ABI2400测试技术参数

英国ABI-6400与ABI-6500参数主要区别:

主要功能:

64通道数字集成电路在线、离线功能测试
64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)
强大的元器件和整板仿真测试功能
阈值电平零界点扫描测试
短路追踪测试(低电阻测试)
实时显示输出逻辑电平值
存储器功能测试
数字时序编辑功能
未知器件型号查询
程控电源供电

测试准确-源自先进的测试技术

同一器件同一时间完成多种测试:功能测试,V-I曲线测试,温度拐点系数测试,连接状态测试,管脚电压测试等.
图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成,方便快捷的建立起测试库中没有的元件库.
整板测试非常简单,通过图形化的测试库编辑器,根据电路板原理,定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号,快速建立板测试库,快速批量检测电路板的功能.
逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的故障元器件.
逻辑电平阈值自定义.可以设定非标准的逻辑电平阈值,检查不稳定的元器件.
短路电阻测量功能:三段低电阻测量范围,可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小,此功能可以用以检查电路板线路的电阻值,及检查短路点.
输出逻辑时序图形显示,具体时序电压值显示,方便掌握具体测试信息.
V-I曲线测试功能:可针对元器件直接进行测试,曲线电压扫描范围:-10v~+10v;测试电压可由2.5到5V步阶式调整,可调整为非对称电压扫描信号,正负电压可以不一致,例如:-2.5v~+10v 最大限度地保证测试的安全性.其输出电流由系统自动调整设定.扫描信号可达几十种.

产品特征:

中英文测试软件,USB接口.
数字测试通道:64路(可扩充到256通道).
模拟测试通道64路(可扩充到256通道).
1路v-i探棒测试隔离通道:4路.总线竞争信号隔离功能:用于解除总线竞争,确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路总线竞争隔离信号,6500可提供8路隔离信号.
能够对多种逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线功能测试;测试库达上万种元器件,可以通过图像化的编辑器自定义测试库,可以快速扩充测试库配有离线测试盒,快速测试批量元器件.离线测试和在线测试功能完全一致.
IC型号识别:标识不清或被擦除型号的器件,可”在线”或”离线”进行型号识别测试.
读写存储器功能测试5V/5A的直流电源程控自动输出,具有过电压及过电流保护功能.由系统自动控制输出,并可设定输出的延迟时间.方便各种类型电路板的测试。
数字集成电路测试中集电极开路，自动上加上拉电阻。
V-I曲线测试具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试LSI大规模集成电路在线功能及状态分析测试：可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。

数字集成电路测试参数规格：

电源供给规格参数：

功能强大的2500

含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.
测量通道数:24个独立测试通道
驱动输出电压:-12V~+12V
驱动输出电流:200mA
可测量输入电压:±24V
输入阻抗:大于1MΩ
IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs
IC测试方式:在线测试,若工作在OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)
晶体管测试种类:晶体管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件测量通道可轻易的让使用者完成分立元器件的测量工作,其内部提供了许多测量方式,可让使用者用于许多类型的分立元器件测试,包含功率型或高增益的分立元器件等.
 
特点:

适合模拟及数字集成电路的测试.
可进行在线或离线测试与分析.
具有24路测试通道.
安全性高的无电源测量方式.
矩阵式V-I曲线测试,可针对管脚间的阻抗曲线进行测试.
在进行离线测试时,可针对芯片内部进行阻抗分析.
自动对比及储存曲线.
可切换VI,VT及IT三种显示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试.
可进行光电耦合器及继电器元器件的速度功能测试.
具有二组信号源,可输出直流信号,针对光电耦合器及继电器进行稳态测试.
并且显示相似度百分比,具有业界中最多的信号频率文件位,对于故障的查找有相当大的帮助.
测试频率高达到12kHz,非常适合测试电感及高频电容器件.
本系统具备自动信号补偿功能,可针对测试环境及夹具进行自校测试,以防止量测信号失真.
可由软件来进行维修日志的编写.
可由软件加入图片,用来清楚的表示量测位置及电路板样式.
可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作,也可安装在PC内来节省所占的空间.

测试参数：

英国ABI-CM4000M电路板故障检测仪产品资料下载

CM4000M多功能电路板故障检测仪主要测试功能：

V-I曲线测试功能
数字示波器功能
Active主动测试功能
FirmFlex信号强度测试功能

特点:

彩色液晶显示
2路V-I曲线实时对比测试
双20路V-I曲线对比测试
40路V-I曲线存储对比测试
四个数字输入通道
双同步脉冲信号
辅助脚踏开关
USB通讯接口
PC软件存储对比记录

CM4000M多功能电路板故障检测仪V-I曲线测试功能:

同时对比2个通道的V-I曲线,自动判断相似度,可以自行设定相似度的百分比判定标准,系统会判定PASS/FAIL.
自动或手动切换测量电压,并可设定切换速度.
可搭配Multiway通道针对40管脚内的元器件做V-I曲线测量记录,并可进行20*2的双通道对比测试.
二个同步脉冲信号输出,配合V-T功能针对MOS或SCR等晶闸管进行功能测试.

V-I曲线对比测试

多通道测试

CM4000M多功能电路板故障检测仪数字示波器功能:

带宽100MHz,采样为50MS/s,重复采样为5GS/s.
可同时在显示屏上显示波形及电压值,并具有数字逻辑电平图标,方便使用者区分信号的逻辑电平.
逻辑电平可根据TTL,CMOS及LVTTL来区分逻辑电平类型.
具有波形自动比对的功能,自动判定PASS及FAIL.

波形与逻辑电平

Active Test主动测试功能:

输出一交流或直流的信号,并可由内部串联电阻作输出的阻抗匹配.
输出的交直流电压范围为+/- 25V.
输出交流频率为10Hz～10KHz.
输出串联电阻为:100R,1K,10K,100K.
输出的交流波形有正弦波,三角波,正斜波,逆斜波,方波,正脉波及负脉波七种波形.

FirmFlex信号强度功能:

可同时测量到信号的波形,电压值及信号的强度.
以背景的颜色来定义信号的强度.
具有10mA,1mA,100uA及10uA四种强度范围.

信号强度测试

CM4000M多功能电路板故障检测仪其它辅助功能:

具有脚踏开关,可以搭配其它功能做出以下动作:
*信号储存至仪器内存.
*可自动记忆当前波形,方便进行波形比对.
*可暂停当前测量动作,显示屏会保持当前测量状态.
具有四个逻辑电平信号测量通道,可同时显示在屏幕上.
具有USB接口,可将测量到的图形储存到计算机中.

技术参数:

附件:

PC软件,USB通讯线,脚踏开关,红/黑4mm探棒2组,BNC-4mm转换器2个,40脚IC夹1个,16脚IC夹1个,示波器探棒2只,多脚导线,电源线1条,操作手册;

英国ABI-1100电路板故障检仪可调电源资料下载

英国ABI-6300电路板故障检测仪彩页资料下载 

 ABI-6300多功能仪表测量工作站  Multiple Instrument Station Module
 
1)数字储存式示波器(Digital Storage Oscilloscope)

2)信号发生器(Function Generator)

3)通用型接口通道(Universal I/O)

4)数字隔离双通道万用表(Digital Floating Multimeter)

5)频率计 / 事件计数器Frequency Counter

6）电源输出

英国ABI-2400电路板故障检测仪产品资料彩页下载

英国ABI-2400电路板故障检测仪产品资料下载

强大的测试功能特点：

1)适合各种类型的测试,模拟及数字集成电路及各种分立器件的测试
2)可进行在线或离线测试与分析
3)具有24路测试通道，也可使用探棒进行巡检测试，针对各种类型的封装元件进行测试。
4)安全性高的无电源测量方式，不用给电路板加电，系统自动施加各种类型的测试条件，最大可能地保证测试安全。
5)多种测试类型：1)简单类型V-I曲线测试，针对固定某一管脚的不同管脚的测试，2)矩阵式V-I曲线测试模式, 可针对管脚间的阻抗曲线进行测试。提供了丰富的测试信息，保证的测试的可靠性。
6)在进行离线测试时, 可针对蕊片内部进行阻抗分析
7)自动对比及储存V-I曲线,以备日后调取，方便了元件库的建立
8)可切换VI,VT及IT三种显示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件
9)可设定同步脉冲信号的宽度, 进行可控规元器件或FET的功能测试
10)可进行光耦合及继电器元器件的速度功能测试
11)具有二组信号源, 可输出直流信号, 针对光耦合器及继电器进行稳态测试.
12)显示相似度百分比，具有业界中最多的信号频率调整档位, 对于故障的查找有相当的帮助.
13)测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件
14)系统具备自动信号补偿功能, 可针对测试环境及夹具进行自校测试, 以防止量测信号失真.
15)可进行维修日志的编写，将维修记录长期保存，以备日后查看。
16)可由软件加入图片, 用来清楚的表示被测元件的位置及电路板样式.
17)可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作, 也可安装在PC内来节省所占的空间.

测试参数：

全功能V-I测试模块2400

全功能V-I测试仪
是一个经由计算机控制来针对各类元器件进行V-I测试的模块.
其大小与一个CD-ROM的大小相同, 所以它可以被安装在个人计算机之中或是另外选配的外接盒之中.
而这是一个包含好坏电路板实时对比的全面性电路板故障检测功能.
SYSTEM 8的全功能V-I测试模块可完全的由客户来设定其测试的各种参数.
用户可依照不同的组件性来设定信号波形参数.即便是波形的颜色或是背景的颜色,也可以依照用户的需求来进行来自行设定.

这是一个良好电容器的基本V-I图形,可以利用实时对比通道来进行波形比对,可依比对的相似度来判定是否为故障组件的图形.

可利用实时双信道对比模式来实时比对二点不同通道的波形差异度.可利用此方式来分辩好板坏板上各点量测波形的相似度,进而找到故障的组件.而此方式适合刚入门的检修工程人员来使用.

此模块还提供了二个同步脉波输出信号,可提供MOSFET或门流体的触发信号.而其脉冲宽度, 信号极性及触发角度皆可设置.

功能强大的矩阵扫描式VI曲线量测方式.它可分别依序将各管脚作为一信号的基准点,再对其它的管脚作VI曲线量测.此功能会比一般的VI曲线量测更精准,更快速.

可同时显示多组波形在同一个显示窗内.此方式可同时检视多个通道的比对结果.或是点选放大其中一个波形来进行故障波形分析.

V-I 测试能力

量测通道:24 多任务信道+2实时对比通道+2同步脉冲信号信道
信号电压范围:2 V to 50 V peak to peak
电压分辨率:8 to 12 bits
信号频率范围:37.5 Hz to 12 kHz
信号电流范围:1 µA to 150 mA
信号阻抗范围:100 Ohm to 1 M
测试信号波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse
显示图形模式:V-I, V-T, I-T
量测波形自动对比功能:可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形,或是将波形进行存储之后,再进行比对工作.
同步脉冲输出模式:正向(Positive), 负向(negative)或双向(bipolar)波形
同步信号振幅:可调式由+10 V~-10V
信号校正:自动
附件(Accessories)
 
标准附件

1×24通道DIL测试夹
1×24通道测试线
2x接地线
2x同步脉冲测试线
1x蓝色V-I测试探棒
1x黄色V-I测试探棒
1x双信道贴片组件测试夹具
选购附件(Options)
适配卡:PCI interface
独立的外接盒:可选配使用USB接口的独立式外接盒.
 
VI曲线的定义

    V-I曲线测试是一种针对模拟及数字电路全方位且可靠度高的测试方法.其测试方式是透过输出电压信号通过被测组件上所形成的电流信号,而定义出该被测节点的阻抗.
 
    而经由连续的电压-电流信号的变化所产生的阻抗测试数据,将此一连续的测试数据绘制成一曲线,此为被测组件的V-I曲线. 通常可利用已知好的电路板上的V-I曲线,来比对待测的电路板或组件,可达到快速故障诊断的目的.而这项测试技术最主要的优势是在于不需为电路板或组件加电,即可直接进行比对测试.所以,即使是无法动作的电路板也可以进行故障检测工作.

英国ABI-6400电路板故障检测仪资料下载

英国ABI-6400电路板故障检测仪产品突出特征：
 
1)产品体积小，重量轻，USB接口，适合携带
2)64路数字集成电路测试，64路V-I曲线测试，1路v-i探棒测试
3)同一器件可以在同一时间完成多种测试：功能测试，V-I曲线测试，温度拐点系数测试，连接状态测试，管管脚电压测试
4)测试库达上万种元器件，可以通过图像化的编辑器自定义测试库，可以快速扩充测试库
5)整板测试非常简单，通过图形化的测试库编辑器，根据电路板原理，定义输入激励型号及输出的标准响应信号，快速建立板测试库，快速批量检测电路板的功能。
6)短路追踪可以快速找到短路点
7)V-I曲线温漂拐点系数测定，方便找出不稳定器件
8)V-I曲线电压扫描范围：-10v~+10v 扫描电压范围可以2.5V步进调整，可调整为非对称电压扫描信号，扫描信号可达几十种。
8)逻辑电平阈值自定义。可以设定非标准的逻辑电平阈值，检查不稳定的元器件
9)逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的错误结果.
10)配有离线测试盒，快速测试批量元器件。离线测试和在线测试功能完全一至。
12)系统可以在64路的基础上以64通道为单位进行通道扩充，直至256通道
 
产品介绍及特点：

1)数字测试通道:64路(可扩充到256通道).
2)模拟测试通道64路(可扩充到256通道).
3)隔离通道:4路.总线竞争信号隔离功能:用于解除总线竞争，确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路总线竞争隔离信号。
4)快速掌握被测元件的多种信息,针对一个器件同时完成多种测试:数字ic功能测试,V-I曲线测试,曲线拐点温度变化系数,各个管脚电压值测量,管脚连接状态测量显示,
5)能够对多种逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线功能测试；上万种测试元件库，元件种类:TTL,CMOS,Memory,Interface,LSI,CPU,PAL等.
6)逻辑电平阈值自定义。
7)逻辑电平阈值自动扫描,以确定板系统逻辑电平阈值,设定循环测试来发现不稳定的错误结果.
8)输入输出逻辑时序图形显示、具体时序电压值显示,方便掌握具体有用测试信息。
9)IC型号识别：针对标识不清或被擦除型号的器件，可“在线”或“离线”进行型号识别测试。
10)读写存储器功能测试:可针对记忆容量在2k×8到256k×8的EPROM进行读取,对比及将资料存入电脑中,可进行在线或离线测试.可采取在线（离线）学习/比较的测试方法，先把好板上EPROM中的程序读出来，保存到计算机上，再和坏板上的相同器件中的程序进行比较测试；测试结果定位到存储单元地址上，并打印出该地址正确和错误的代码
11)V-I曲线模拟特征分析测试:V-I曲线测试通过比较好和坏电路板上相应器件管脚的特征曲线差异检测故障.可把故障定位到电路结点.V-I曲线试不涉及器件功能是逐管脚进行的,不受器件封装限制,任何封装形式的器件均可进行测试,V-I曲线测试无需给电路板加电,测试安全。
12)5V/5A的直流电源程控自动输出,具有过电压及过电流保护功能.由系统自动控制输出,并可设定输出的延迟时间.方便各种类型电路板的测试。
13)V-I曲线测试功能:可针对数位元件直接进行测试,具有64组测量通道并可以扩充到256组通道,测试电压可由2.5到5V步阶式调整,其输出电流由系统自动调整设定.
14)图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑，方便快捷的建立起测试库中没有的元件库。
15)电路板整板测试，通过图像化测试库编辑器，测试者可以根据电路板的原理图，将电路板的输入输出的时序进行图形化的测试库编译，自定义输入通道的测试激励信号，根据电路板的原理推算出输出通道的响应时序信号，并将测试库保存在测试库中，以备日后做整板检测使用。
16)短路电阻测量功能：三段低电阻测量范围，可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小，并自动探棒校正功能。此功能可以用以检查电路板线路的电阻值，及检查短路点。
17)中英文测试软件，体积小，usb口连接电脑
18)V-I曲线测试电压-10v~+10v内可以调整，正负电压可以不一至，例如：-2.5v~+10v 最大限度地保证测试的安全性。
19)该设备可以64路通道为标准进行扩充，直至256路，保证了整板测试的最大路数为256路。
20)V-I曲线测试,可以观测曲线拐点温度变化系数，易于发现一些器件的非固定性故障(或称为软故障)。
21)数字集成电路测试中集电极开路，自动上加上拉电阻。
22)V-I曲线测试具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试
23)LSI大规模集成电路在线功能及状态分析测试：可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。
 
技术参数：

英国ABI-BM8500电路板故障诊断系统产品彩页资料下载 

特点：
 
集成电路及电路板的标准测试功能
数字及模拟集成电路的功能测试
动态及静态测试
适合单点量测
自动化测试程序
可由使用者设计的操作软件
 
简介：

    英国ABI公司的BoardMaster 8000PLUS是一个独特的多功能且易于使用的独立测试系统. 它提供了全面性电路板检测功能, 可几乎含盖了任何类型的电路板的检测能力.
 
    无论在电路板的设计验证, 生产测试, 半导体器件测试, 生产或是一般维修保养, 以及是否你的电路板是模拟还是数字的电路板, 或者是混合型的电路板, BoardMaster 8000 PLUS都会是最终极的诊断工具.
 
针对您所有的测试要求所提供的完美解决方案…
 
    对于现今电子业界的快速变化，求新、求变的市场需求特性，无论是工作在设计，生产，试验或故障的情况都在向电子工程师提出了各项的挑战。电子电路变得更快，更小，更便宜和更复杂。在测试和维修的成本效益也变得相对性的提高很多。因此，您的测试设备是否能因应你的需求，而来挑战这一连串爆发性的技术改革变化。如果你了解到的这个问题，你已在寻求解决方式的路上了
 
    尽管目前的电子技术日新月异，但其故障情形的基本性质仍是相同的。故障的集成电路(ICs) 它会无法正常动作的.，故障的二极管会呈现开路或短路的状态，故障的电容器有时会呈现短路的故障现象。现今会造成电路板上焊桥的情况跟10年前的是相同的情形。但今天我们必须快速的找到这些故障点。 “具高经济效益的维修工作” 的重心并不在于能不能修复电路板，而是在于需要花费多少的时间以及人力来修复一片电路板。
 
    以经济学来说，维修费用也必需包括其测试设备。而 BoardMaster 8000 PLUS在其广泛的应用上具有相当高的成本效益。它包含了一个完整的高规格仪表控制软件，且易于工程师来操作应用。硬件是安装在一个坚固的机箱内，并包含了一个高规格且以微软的Windows为操作系统的PC。而BoardMaster 8000 PLUS是一个模块化系统，因此可以为特定应用进行客制化的配制。
 
数字集成电路测试功能模块(BFL) 

    在BoardMaster 8000 PLUS中提供了两个数字集成电路功能测试模块,其具有128个量测通道,可提供多种的量测功能.这些通道可提供全面性故障诊断能力,包括数字集成电路功能测试(在线/离线测试).集成电路接脚的连接状态和电压值的量测,并连同在无电源供给的情形下使用的VI曲线的测试功能.

模拟集成电路测试功能模块 (AICT)

     在模拟集成电路测试仪中允许模拟集成电路和分立集成电路 (Discrete Components)进行功能测试。所有常见的模拟集成电路皆可以测试，系统会依照集成电路在PCB上的电路型态来作功能测试，不需要编辑程序或参考电路图。在AICT模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能，电路板或集成电路可在无电源供给的情形下，得到清楚易懂的图形化测试结果。

综合型基础仪表模块 (MIS)

    在MIS仪表模块中，提供了多种高规格的测试及量测用的仪表功能在同一模块之中。此种设计方式，适合用于教育及一般用途的电子量测使用。其模块提供了频率/事件计数器，数字存储式示波器，信号产生器，双信道的数字电表，固定式电源供应器及通用型的I/O接口。且操作者可以利用软件的自定仪器平台功能，来设计客制化的仪器操作接口。

数字可调式电源供应器模块 (VPS)

    此模块可提供集成电路或电路板在进行测试时所必要的电源。其具有三组可调式电源输出，并同时具有过电压及过载保护功能。

培训用电路板

    一个训练有素的工程师会比一位新手在工作上来的有效率，这是众所皆知的. 对于ABI的测试产品，为了让ABI的客户能够有效的利用ABI的产品设备，其关键点就是要让使用者认识它所有的功能。就是因为抱持着这种态度，ABI已针对所有的客户开发出完整的培训方式.
 
    这个方式是针对BoardMaster 8000 PLUS此产品特别设计的电路板为平台. 经由电路板上不同的控制功能，来提供不同的故障现象，让使用者学习到电子学的原理和获取电路修复的知识技术. ABI已提供培训人员一份以测试程序 (TestFlow)的形式所呈现的指南，内容包含了详细的说明及解释.
 
    此培训方式已在业界被广泛的使用，其好处是在于用户可以用自己的步调来培训自己或是工程人员，而可由此来应用在其它的更广泛的工作类型上. 而此培训方式也是许多在世界各地的大学或是技术学院教育课程的一部份.

标准的测试附件(夹具)

BoardMaster 8000 PLUS 提供全系列的测试线及夹具，适用于所有的产品模块使用。
 
数字集成电路测试模块的测试附件

1 x 64 way test cable
1 x 64 way split test cable
1 x BDO cable assembly
1 x short locator cable assembly
1 x ground clip
1 x PSU lead set
1 x V-I probe assembly
 
综合型基础仪表模块的测试附件

2 x DSO probes
1 x yellow probe and cable
1 x blue probe and cable
1 x black probe and cable
1 x universal I/O cable (not terminated)
1 x 64 way test cable
1 x 64 way split test cable
1 x BDO cable assembly
1 x ground clip
1 x PSU lead set
1 x V-I probe assembly
 
模拟集成电路测试模块的测试附件

1 x 24 way test cable
1 x 24 pin test clip
1 x yellow probe and cable
1 x blue probe and cable
2 x pulse leads
2 x ground leads
3 x discrete leads
1 x SMT tweezer set and adapters.
 
DIL Test Clips (0.3″ gauge – 8, 16, 20, 24 pin, 0.6″ gauge – 24, 40 pin) Automatic out-of-circuit adapter
40 pin ZIF socket for out-of circuit testing of ICs. SOIC and PLCC adapters available.

选配的测试附件(夹具)

MultiProbe Range (排针型测试探棒)
0.050″ pitch 10 pin (SOIC and PLCC) and 0.100″ pitch 8 pin (DIL).
PenProbe 4-piece Set (笔型测试探棒)
Type 1 (3 pin transistors, SOT23 and similar), type 2 (3 pin transistors, TO72 and similar), type 3 (3 pin transistors, TO220 and similar), type 4 (3 pin transistors, TO92 and similar)
SOIC test clip and cable set (表面粘着型集成电路夹具)
8,14,16 pin narrow and 20, 24, 28 pin wide
PLCC test clip and cable assembly (PLCC型集成电路夹具)
20, 28, 44, 52, 68 and 84 pin
QFP test clip and cable assembly (QFP型集成电路夹具)
100, 144, 160, 208 pin

Premier 操作软件

 
此操作软件是专为SYSTEM8 所设计的完整的控制软件. 其内部还提供了最先进的测试演算. 其软件可提供下列专业的软件管理功能:
 
User access manager (使用者权限管理功能)
TestFlow automatic test manager (测试程序编辑功能)
Instrument design manager (仪器平台编辑功能)
Instrument menu manager (仪器清单管理功能)
Custom calculator functions (自定计算公式功能)
Flexible data logger (数据记录功能)
 
    标准测试程序功能 (TestFlow)是整个SYSTEM8系统的主要概念，利用这种方式不仅加速了整个测试及故障定位的工作，另外，也可让半熟练的工程人员来进行操作.
 
    标准测试程序功能 (TestFlow) 可以将电路板的故障定位工作，转换成一个循序渐进的标准程序，并降低量测的不准确性并且记录所有的量测参数. 技术工程人员可以自行编写一个标准的测试程序，或经由TestFlow为特定的电路板设定标准的量测步骤及记录量测的结果. 工程人员也可以加入电路图或实际的电路板图片，甚至是加入一些指示来帮助检测工作的进行. 半熟练的工程人员只需要按步就班的依指示及图示来操作设备，便可以完成所有的检测工作.
 
    标准测试程序功能 (TestFlow)可提供故障检测记录，可用来比对好坏电路板的差异性. 所有的测试点、测试方式、操作说明及报告结果及统计功能皆以一个容易遵循的格式呈现.
 
PremierLink 软件(选配)

    PremierLink软件是一个选配的软件包. 它可以允许使用者自行建立新的测试集成电路到集成电路测试数据库中，或是新增一个新的功能测试以配合新的电路板量测应用.此软件功能可以用来查询已有的ABI集成电路数据库的ASM程序，也可用此软件专用的程序语言 (PLIP)来建立一个新的集成电路程序. 此程序语言是一个高阶的程序语言，且适合用来编辑模拟和数字集成电路的测试程序.
 
集成电路数据库的编辑功能及集成电路的参数定义.
PLIP高阶程序语言可提供新一代的集成电路的功能测试.
可整合进入SYSTEM8 的集成电路数据库中.
具编译功能(Compiler), 除错功能(Debugger)及动态的讯息功能

BoardMaster 8000 PLUS 的使用场合为何?

    随着客户由航空仿真器的制造商到重金属工业公司，由集成电路制造商到科技大学及技术学院，BoardMaster 8000 PLUS及SYSTEM8 相关系列的产品，在每个技术领域及世上每一个角落，都在不断的展现它功能的多样性及不同应的弹性. 有很多的维修中心都配备了BoardMaster以维时良好的维修完善率及维修能力，而这些维修中心的客户广泛的包含了: 电信、交通及一般的消费产品. 感谢全世界许多的经销合作伙伴及网络，让许多遍布全球的陆军、空军及海军单位都在使用BoardMaster 8000 PLUS.
 
进阶应用 : 大量及最终的在线测试应用

    BoardMaster 8000 PLUS 对于数量大及须保持高度质量的电路板检测工作，它可以提供最佳的检测方案. 它的最终目的是在于确保电路板通过软件的设置标准，以确保整体的性能在标准之上. 我们可以利用不同模块的特殊功能，来达到不同应用的需求. 例如: 我们可以利用综合型基础仪器模块 (MIS)来收集并纪录所量测的数值波形，并利用数字集成电路测试模块 (BFL)来提供电路板多个接点的控制信号，并经由标准程序功能 (TestFlow)的软件功能，来整合在一连串的量测流程之中，并将其量测所得的过程记录成报告的形式，可供日后的数据检核之用. 如果有任何的应用问题，可以直接与ABI的技术人员进行讨论.
 
BoardMaster 8000 PLUS 的产品规格

Digital IC Test 数字集成电路测试功能

    具128个量测信道 (64信道X2组模块). 八组输出隔离信号. 一组5V / 5A的电源供给输出. 可进行集成电路的功能测试、电压量测、接脚连接测试、温度指数及V-I曲线量测. 内建逻辑时序信号量测功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等. 并可针对数字逻辑位准进行调整，另外可自动定位集成电路接脚及电路状态比对功能.
 
Analogue IC Test 模拟集成电路测试功能

    具有24组测试信道及外加一组的分离集成电路测试信道. 内建集成电路数据库可量测模拟放大器、比较器、光耦合器、晶体管、二极管及特殊功能的集成电路. 可针对模拟集成电路进行功能测、连接状态测试及电压量测. 并具有自动定位集成电路接脚及电路状比对功能.
 
Digital V-I Test 数字式V-I曲线测试功能

    具128 量测信道 (64信道X2个模块). 可调整量测信号电压范围. 针对数字集成电路可达到有效的量测结果.
 
Analogue V-I Test 模拟式V-I曲线测试功能

    具有24 量测通道及外加二组独立量测通道. 其具有可调频率、可调电压、可调输出阻抗及选择量测波形功能. 并可选择波形显示模式: V-I、V-T及I-T三种显示模式. 二组同步可变脉宽的信号输出. 内建量测线路补偿功能. 具有外接盒可供选配.
 
    Matrix V-I 矩阵式V-I测试功能具有24组矩阵式的量测通道. 单一波形多重显示的方式，并可直接进行量测波形的比对功能，并以条状图的方式来显示各信道信号的差异百分比.
 
Graphical Test Generator 数字时序编辑功能

    具有128个信号信道可供编辑数字时序信号. 每个通道可设定输出、输入及双向状态. 并可读取数字向量信号、并且储存之后再进行比对.
 
Floating Digital Multimeter 双信道万用电表功能

    具二组自动换文件的量测通道，可量测DC及AC电压信号达400V，可量测DC及AC电流信号可达2A. 阻抗量测可达20M奥姆. 各信道具有统计功能，可显示最大值、最小值及平均值. 另外提供一组计算器，可针对所量测到的数值进行实时的计算并记录.
 
Universal I/O 通用型输出/输入信道功能

    具有四组模拟信号信道及四组数字信号信道. 模拟信号信道可设定成为电压输出、电压量测、电流输出及电流量测四种工作模式. 其电压范围为 -9V to +9V，而电流范围可达20mA. 数字信号信道可设定为输出逻辑HIGH、逻辑LOW或是侦测目前信道的信号逻辑状态，其输出及输入能力是以TTL位准为标准.
 
Short Locator 短路电阻量测功能

3具有三段低电阻量测范围，可以图示及声音来判断目前短路的位置.
Auxiliary Power Supply 固定型电源输出功能
具三组固定式的电源输出，分别为: 5V / 0.5A输出，+9V / 100mA输出及-9V / 100mA输出. 各信道都具有电流值监测功能.
Variable Power Supply 可调型电源输出功能
逻辑电源输出的可调电压范围为2.5V到6V 并具有过电压跳脱功能. 另外有可调式的正负电源输出，其可电压可调范围为-24V到+24V. 其输出电流能力可达1A.

产品简介：

一．PFL780故障诊断系统特点及功能

    PFL780提供了强大的测试功能及优秀的集成环境，使用户可以很方便地编写测试程序，对各式各样的印刷电路器件进行测试。PFL780 应用了现已被业界广为称赞的模拟信号分析(ASA)技术，该技术可使用户高效地解决印刷电路板的故障问题；除此之外更拥有另一种检测故障的手段–在线功能测试。
 
    PFL作为一种出色的测试仪器，具有广泛的应用领域：在维护领域，可用于故障检测；在制造业中，可用于内部测试和故障检修；在维修服务方面，可以快速诊断故障所在。
    PFL控制软件运行于装有Microsoft WIN 95/98 操作平台的IBM PC或兼容机上。计算机串口通过一条RS232-C电缆与PFL设备连接，高速传输命令和数据。
    该软件提供了一个集成测试环境, 用户可以编写测试程序，采集、查看、存储器件信号，还可以设置系统的访问权限。采集到的信号经过数字化处理后存储在计算机硬盘上， 可以作为参照信号与待测器件的信号相比较。信号波形可由打印机打印出来。
    测试文件的编译、保存十分简单。测试文件可以保存在计算机硬盘上或备份到软盘上，便于和其他维修机构或组织进行交流。

1）PFL780电路板故障检测仪具有：
4个IDC插座，共128个测试通道；
A通道和B通道探针；
两个并行的COM （公共地）连接器；
两个脉冲信号发生器并行输出；
ICT 5V 电源；
4个ICT 逻辑高（5V）及低（0V）的隔离电平；
脚踏开关（ACC124）。（踩下脚踏开关相当于在 工具栏 中按下 测试 按钮。）

2）模拟信号分析
模拟信号分析（ASA）技术，是指对被测器件的引脚施加一个小功率、处于安全使用范围之内的交流驱动电压（AC），而使其在电脑屏幕上显示出一个阻抗信号（V-I曲线）。阻抗信号是一个以窗口屏幕中心为原点，以电平和电流分别作为X轴、Y轴的图形。正电压和电流显示与右上象限；负电压和电流显示在左下象限。

负载线在坐标轴上相接，围成一个菱形区域。所有测试信号都在这个区域内。
不同类型的器件的信号波形明显不同，因此很容易被分辨出来。测试操作一旦完成，驱动电压将立即取消。因此，用户不必担心待测器件会被损坏。对比有故障器件和正常器件的测试信号，这样，对一些复杂电路，不须了解其功能特性，也可以找出故障原因。 这一点在技术文档不完备的情况下 显得犹为重要。

3）在线功能测试
PFL780 的在线测试功能是指：将待测器件在测试过程中实际测到的逻辑输出与它本身所带的数字器件库中所定义的相应器件的标准输出相比较，以判定器件的好坏。进行在线功能测试时，无须将器件从电路板上摘除，只需将测试夹具夹在待测器件上即可进行测试。
PFL780 器件库包含从简单的门电路到微处理器的多个应用领域的数字器件（不同的逻辑系列）。
PFL780 可以将一个采集到的、好的器件的信号，作为进行比较的参照标准。器件中具有固定逻辑高/低电平的引脚，以及引脚间的内部连接，也将作为参照数据的一部分而保存起来。
在ICT 编程及测试期间，引脚连接图和逻辑时序图显示出控制线、信号输入和输出间的相互关系，可以让用户很直观地看到器件每个引脚的动作。
当处于PFL 交互测试窗口 时，用户可以直接使用ASA 技术测试器件 _ 使用 交互测试 功能可以同时对比有故障的电路板和作为参照的正常电路板，多用于小范围内的比较测试。
器件的测试信号显示在计算机屏幕上。通道A所测试器件的信号波形为绿色，通道B的为红色。
4）用户在操作屏幕上可以调整可以调整以下选项：

测试范围选择
在 交互测试窗口 中，可以用手动/自动方式选择测试电平和频率。这样可以快速选出适合待测器件或电路的测试电平和频率。

屏蔽指定的测试电平
使用电平范围菜单中的屏蔽命令，用户可以选择在手动、自动或循环方式下需要屏蔽的电平范围。

自动选择适合的测试电平范围
使用 自动 选项，可以自动选择能产生有意义的信号波形的驱动电平范围。通道 A 可以执行这种操作。
循环测试
使用 循环 选项，在每个电平范围内循环显示测试信号。拉动 步频 控制条来设置每个范围驱动电平的保持时间。
可调整测试的容错度
拖动 容错度 控制条（从1 至 99%）来改变信号比较的灵敏度。较小的值代表较严格的比较，较大的值允许信号有较多的不同。开始时容错度设置为5%，可以调整这个值，使好的器件能通过测试而有故障的被查出。
声音提示
单击 声音提示按钮 ，可以使PFL在对比两个信号期间，一旦出现超过 容错度 设定的差异时，即刻发出声响警告。该项功能使用户在测试时能够专注于对待测器件的操作，而不必总要留意计算机屏幕。
脉冲信号发生器
PFL具有脉冲信号发生电路，通过调整脉冲信号的振幅, 脉宽, 极性和延时，来控制三极管, SCRs, Triacs 和其它三端器件的导通状态。

二.半导体分立器件测试
1）测试电阻
纯电阻器件产生的信号波形为一条斜的直线，其斜率由阻值而定。
下图显示的是三个不同阻值的电阻（2kΩ、270kΩ和10KΩ）的典型信号波形。
2ΚΩ电阻，逻辑电平，低频 Ω电阻，高电平，低频Ω电阻，高电平，低频

2）测试电容
由于具有储能特性，电容、电感器件的测试信号将在电压和电流上产生相位移。
测试信号将因此呈现为圆形或椭圆形。
3）测试电感
左下图是铁心变压器的一次线圈，在测试电平为 低电平，测试频率为 高频 时的信号波形。由于受器件中电阻成分的影响，椭圆形信号是倾斜的。右下图显示的是相似的铁心变压器，但其有短路匝。用户可以选择最适合的测试频率_低频、中频 或 高频 。对于电容器件而言，测试频率越高，通过的电流越大，此时信号波形在Y轴方向的延伸就越长；而对于电感器件而言，测试频率越低，通过的电流越大。
4）测试二极管,LED和齐纳管
对于二极管，当施加正向电压时，其呈现出低阻抗特性，有0.6V压降，信号波形近似为一条平行于Y轴的垂直线，如图。

5）测试三极管
一个三极管由两个PN结以”背对背”方式组成（一个在基极和集电极之间，另一个在基极和射极之间）。下图显示的是三种典型的NPN型三极管的测试信号波形（基极-射极，基极-集电极以及射极-集电极）。NPN型三极管的集电极和射极为N-型材料，基极为P-型材料。.
基极-射极间的测试信号与齐纳管的相似。长时间对基极-射极间PN结施加反向击穿电压，将会影响器件的特性。
基极-集电极间的测试信号与普通二极管相似。
集电极-射极间的测试信号有如二极管和齐纳管串联在一起。当驱动电压为正时（右区域），集电极-基极间是反向偏压，基极-射极间是正向偏压。集电极-基极间的反向偏压抑制了电流，形成一个开路信号（一条垂直线）。
当驱动电压为负时（左区域），集电极-基极间是正向偏压，基极-射极间是反向偏压。基极-射极间的信号就象上述齐纳管反向击穿时的一样，为一个类似于齐纳管信号偏压抑制了电流，形成一个开路信号（一条垂直线）。

PNP三极管的信号波形刚好和NPN三极管的波形相反。

6）判断三极管引脚
对三极管进行三端测试，可驱动三极管的基极，检查它是否能控制集电极-射极间的导通。
由于三极管具有的开关特性，当其开始导通时，信号波形多类似于右图。（波形相反是因为是PNP管的缘故）。 这并不表明有故障，只是说明器件在正常导通和饱和状态之间切换。选择其它范围电压进行测试，可以得到稳定的信号波形。
测试场效应管（JFETs）可当作普通二极管来测试。而对MOSFET管可进行三端测试
7）测试光电隔离器
光电隔离器由一个作为输入的LED 和一个在电气上完全隔离的输出三极管组成（基极隔离）。
作为输入端的二极管可按普通二极管来测试，输出端的三极管（集电极-射极特性）的信号波形不是一条水平线（开路），就是和普通三极管的射极-集电极波形一样。也可用脉冲信号发生器对光电隔离器进行三端测试

8）测试SCR及Triacs
SCR可以看作是一个二极管外加一个控制端（所谓“栅极”）。 Triac与SCR非常相似，只不过Triac既可以受控于正向栅极电流，也可以受控于反向栅极电流，从而能够双向导通。二者都可用脉冲信号发生器对其进行。

三．集成电路V/I曲线测试
所有的集成电路都可以用探针对其引脚进行测试（例如，对比两块电路板上相应引脚的信号波形）。绝大多数的IC在此方式下测得的波形都与二极管或齐纳管相似。
注意： 由于IC制造商采用的生产技术不同，因此即使是同一型号的IC,也可能有不同的信号波形。测试前应考虑到这一点。
对CMOS器件的ASA测试与上同，只不过由于制造工艺不同，VI曲线有所不同。
1)测试在线器件
当测试一个在线器件时，其信号波形也包含着其他并联器件的波形。大多数的故障测试都有这种情况发生。一个故障器件可能会影响与之相连的其它器件的测试信号。用户可以测试多个点的信号波形，通过分析来找出故障器件。
电路中，任一测试点的电气特性是不同的。最好的测试方法就是：使用通道A 和 B 同时测量好板和故障板，来找出故障点。

2)测试总线上的器件
当多个器件连接在同一条总线上，可比较总线间信号的差异。同一总线上各传输线的信号波形应该很相似（例如，所有数据线上的信号是一致的）。如果总线中有一根线的信号波形和其它的线不同，那么很有可能总线上的一个器件坏了。

四．快速测试检测器件
在PFL的 快速测试 窗口中，用户不用编写测试程序，直接就可以测试器件和电路板。如果用户拥有一块正常的电路板，那么就可以使用比较技术进行测试。执行 快速测试 操作，用户可以从正常电路板上采集器件信号作为参照信号，然后再采集待测器件的信号与之比较。
点击工具栏上的按钮或点击相应菜单即可执行各种操作。

有三种方法来实现 快速测试 比较功能：
标准模式 输入器件的型号即可。
ASA模式 设备将自动检测待测器件的引脚数目并执行 ASA 测试。
探针模式 使用探针或Polar SMD 探针进行测试。

1）ICT连接功能
ICT连接使用器件的ICT驱动来检查内部连接引脚或固定引脚。如果待测器件没有ICT驱动，PFL将执行ASA连接测试。

2）ASA连接功能
ASA连接 功能检测哪些引脚与公共地短接。

3）使用‘快速测试’进行比较测试
按 快速测试 按钮 _ 显示 快速测试 窗口，上一次测试的器件型号显示在下拉列表窗口内。
在比较测试中， 快速测试 窗口将显示 采集参照信号 的提示，输入器件型号（例如74LS244，或者从器件库列标中选择器件），将测试夹具夹在好的器件上，然后按 测试按钮 或踩脚踏开关采集并保存参照信号。

（如果为此器件输入了注释信息或注意事项，那么这些信息将在采集信号前显示在屏幕上；按 确定 按钮继续执行测试。）

参照信号可以通过切换 查看屏幕.进行浏览。按 查看 ASA，查看 ICT 或 查看连接 按钮，打开或选择一个查看屏幕。

显示 采集待测器件信号 的提示时，将测试夹具夹在待测器件上，然后按 测试 按钮，待测器件的信号将与保存的参照信号进行比较。

结果栏中将显示 通过 或 失败 的测试结果，并且在列表中用 绿色对钩 或 红色小叉 来表明不同类型的测试是否通过或失败。

4）查看ASA测试结果
ASA 结果窗口显示参照信号和待测器件的每个引脚在设定的所有电平范围内（结电平，逻辑电平，低电平等等）的信号波形。

5）查看ICT测试结果
ICT 查看屏幕将显示待测器件的逻辑时序图。
逻辑时序图 以图形的方式表示在线器件的逻辑功能。逻辑时序图 显示器件的每个引脚在每个测试步骤上的逻辑电平，显示控制线和信号输入及输出间的关系，以可视化的方法表现每个器件引脚上的动作。

6查看连接
连接 窗口显示器件的 连接 测试结果。

五．电路板故障检测
1）自动测试
如果没有参照电路板用来进行比较测试，选择 自动 选项，对待测电路板上的器件进行 ICT 测试。
当一个器件被置于电路中时，其逻辑操作和标准状态下的操作是不同的。例如，将一个双输入与非门的输入引脚短接，其功能将和一个反向器相同。自动 功能将自动修正这种情况下的测试方法。
当使用 自动 功能进行测试时，PFL780 将识别待测器件的引脚哪些是相连的，哪些是连接在固定电平上的，然后为待测器件建立一个软件模型，将待测器件在当前电路环境下与这个模型进行测试。

2）搜索器件型号
当一个器件的型号不可知时（例如，器件型号已模糊不清或被打磨掉），可使用 搜索 功能。PFL780 将在它的 ICT 器件库中搜索与未知器件行为模式相符的器件。

六．使用ICT进行电路板及器件测试
使用 PFL780 ，用户可以对在器件库中建立有测试模型的器件，进行单一的和反复的 ICT 测试。当不知道器件的型号时， PFL780将器件和器件库中的数据进行比较，列出相同功能的器件型号。
ICT 测试技术，被广泛地应用于测试和维修那些包含数字集成电路的印刷电路板。
ICT 是一种对逻辑器件执行功能测试的测试方法。ICT 按照数字集成电路的设计参数，验证其相应的逻辑功能是否正确。在进行 ICT 测试期间，PFL780 驱动数字器件的所有输入端，并检查其输出端的结果是否正确。
使用 ICT 可以测试大量的逻辑器件（例如，利用 ICT 功能，PFL780 可以轻易的根据真值表来测试逻辑门电路，或在一段给定的时钟周期内测试计数器或移位寄存器）。
ICT 甚至可以测试非常复杂的器件 _ 举个例子，PFL780可以测试大容量的存储器，例如VLSI RAM （写入每个存储单元，然后读出以验证数据是否正确）。
ICT 也可以用来测试可编程器件，例如对ROM或EPROM的编程是否正确或可编程接口器件的受控是否正确。
使用 ICT ，PFL780 将正常电路板上的器件信号储存起来，用以和待测电路板上相应器件的信号相比较，测试结果表现为显示“通过/失败”或显示引脚间的连接和逻辑时序图， 使用户可以快速找出那些较隐蔽的错误。
大多数情况下，用户只需将测试夹具夹在待测的数字器件上，指定器件的型号（如果已知的话），就可以进行测试。在 ICT 测试中，PFL780在测试期间自动为待测器件加电，对比待测器件和器件库中标准器件的逻辑功能。
1）测试在线器件
某些情况下，器件在电路中的逻辑动作与其真值表的描述一致。此时，用户只要简单地将测试夹具夹在器件上，并指定器件型号就可进行测试。

通常，用户首先用 PFL780 采集好板子上器件的信号。在采集过程中，会将器件的工作模式和器件库中相应器件的标准工作模式相比较，它们间的差异会被记录下来。

采集到的信号将作为参照信号，用来和待测板上相应器件的信号相比较。

为了处理不同的制造商生产的同一型号器件间存在差异的问题。PFL780允许用户保存多个制造商生产的器件的信号作为参照信号，待测器件的信号将和这些参照信号相比较。

2）后驱动技术
如果要完全测试一个数字器件，测试程序必须核定被测器件在所有可能的输入情况下的输出结果是否正确。PFL780的内部测试电路能够提供或吸收额外的电流，来改变待测器件任意引脚上的逻辑电平，强制引脚处于指定状态，而不管其前级输出的逻辑状态如何 _ 这就是我们通常所说的后驱动技术。
后驱动 是在数字在线测试技术之后出现的主要测试技术。为了对数字集成电路进行一次完整的逻辑功能测试，必须使待测器件的输入端出现 所有 可能的逻辑状态。驱动待测器件的 输入 通常是指反向驱动（提供或吸收输出电流）与其相连的其它器件的 输出 。

为了限制对待测器件前级门电路的电流驱动，PFL780 将在16mS内完成整个测试过程。
以上是对获得国际上广泛认同的后驱动技术的阐述。
3）数字芯片的ICT测试
注意：在进行 ICT 测试期间， 务必确保设备不和任何外部的0 至 +5V 相连接。否则，极易对 ICT 驱动器/传感器网络造成损坏。
或者，在进行离线测试时使用 ZIF 测试座（ACC145）。
在线器件的信号采集和测试过程要求对电路板加电。整个过程由两个测试部分组成 _ 连接测试和逻辑功能测试.

1>连接测试

在连接测试中，PFL780 检查器件引脚的状态。
指出哪些状态固定为高或低电平的引脚（例如，电源引脚和接地引脚总是固定为高电平和低电平）。
PFL780 也记录引脚间的内部连接。
连接测试的结果显示在连接窗口。
2>功能测试

在功能测试中，PFL780 检查器件是否正确实现了它本身的逻辑功能。
PFL780 从器件库中调出测试程序，驱动器件的所有输入端并监视输出端上的相应变化。
功能测试的结果显示在ICT 窗口，.
3>调整测试条件

当在线测试数字集成电路时，待测器件必须可以初始化，确保电路中的其它器件不能影响到测试的结果,防止其它信号 （例如，时钟信号） 干扰测试结果。

4>逻辑时序图

逻辑时序图 以图形的形式显示在每个器件引脚测试过程中的每个测试步骤上的逻辑电平状态。
电平显示为 高电平，低电平，三态（高低电平间的点划线） 或 无关 （斜杠区域）。
参照信号（学习到的信号）的波形呈 绿色 。
正确的引脚波形也显示为 绿色；错误的引脚波形呈 红色 ，易于分辨。
5>采集器件信号
当以逻辑真值表测试器件时，PFL780 从器件库中载入测试程序，将器件的动作和器件库中标准模式器件的动作相比较。
对于焊接载电路中的器件，用户首先用 PFL780 采集正常电路中的器件信号，作为参照信号。
在采集参照信号的过程中， 将器件的逻辑时序和器件库中“标准”器件的相比较，并将两者间差异保存起来。这种情况下，甚至在有悬空引脚、和本身其它引脚或附近器件的引脚相连的引脚、接地或接高电平的引脚等的情况下，也能对器件进行测试。
存储的信号作为参照信号，用来和怀疑有故障的电路板上的信号进行比较 _ 成功则显示“通过”。
使用 PFL780 还可以学习和测试烧录好的可编程器件，例如EPROM和PAL。对器件的学习过程是测试程序的一部分。

6>测试器件
当测试器件时，PFL780 显示测试的结果，包括测试是否通过，引脚分布图，显示所有的固定引脚以及确定的和意外的连接，一个逻辑状态图（用来表明器件引脚在每个测试点上的逻辑状态）。
PFL780 载入已完成学习操作的测试程序进行测试。测试的结果（通过或失败），将和 ICT 测试的结果同时显示。即显示连接测试的结果和功能测试通过或失败的引脚序号。
连接框图中显示每个引脚的序号和功能（例如CLK, VCC, GND, 等等），以及是否为固定引脚和相连引脚。

七．对在线器件进行隔离
1)总线器件（三态）
在总线系统中，所有器件通过总线连接。任何时候，总线上只能有一个器件发送数据。
因此，总线上所有器件的输出就必须具有一种不同于逻辑高电平或低电平的状态 _ 开路状态。这样，总线器件就具有了所谓的三态 ：高电平、低电平和开路。
三态器件有一个使能输入端，用来控制器件的连接状态（是作为普通逻辑器件连接到总线上，还是对总线开路）。
使能端通常和微处理器的某根控制线连接（有时是间接连接）。使能信号一般为逻辑低电平，即使能端上的低电平允许总线器件输出高或低电平。

提示： 将微处理器系统中的 CPU 摘除可使总线器件的使能端悬空至高电平。这样做可使总线器件相互隔离，防止出现总线冲突。

当总线器件被禁止时，其输出对于总线来说是开路的，可看作是器件从总线上脱离 _ 通过禁止总线器件可使待测器件独享总线。
2)使用PFL780提供的隔离电平将在线器件隔离
在多数情况下，将器件摘除或禁止都很困难。

PFL780 在前面板提供了逻辑高和低的隔离电平（+5V 和 0V），来禁止待测器件周围的外围器件。这样就不必采用将待测器件从电路板上摘除的隔离方法。

如果象诸如摘除CPU或禁止总线缓冲器的方法实现起来较困难，那么可以使用提供隔离电平到CPU的RESET，HOLD，或DMA 请求端的方法来隔离总线上的器件。

许多类型的器件具有一个低有效端或控制线 _ 对控制线加一个逻辑高电平将使输出端呈高阻状态，起到输出开路的作用。如果有多个器件共享总线，那么就需将隔离电平加到其中多个器件上，以保证能有效地隔离待测器件。

测试总线上的器件时，有效的隔离方法是提供隔离电平到总线上所有其它器件的输入使能端（强制这些器件的输出呈开路状态）。

下图中， U2是待测器件，隔离电平加在U1输入使能端，U1 的输出呈开路状态。
使用隔离电平隔离一个器件

八．器件库及其扩展
PFL780 系统软件的器件库涵盖范围很广，其中包含有大多数通用数字器件的功能说明及引脚定义，如；TTL 器件（74和75系列）、4000 系列的 CMOS 器件、微处理器和微控制器、微处理器接口器件、存储器器件和可编程逻辑器件等。同时，PFL780还为用户提供了扩展器件库的工具— 器件库管理器和ICT驱动程序编程软件，可以创建新的器件，或者为库中已有器件建立别名。

1)编程窗口
当 PFL 系统启动时，将显示 快速启动 对话框，用户可从中选择学习一块电路板、执行一个已有的测试程序（从列表中选择）或选择 交互测试 或 快速测试 （ 快速启动 对话框中显示最近进行的一系列测试程序；如果还没有创建测试程序，将显示一个名为 无标题 的、空的测试程序。可以用 设置 菜单中的 提示 命令，禁止其在系统启动时显示）。
PFL 编程窗口提供了一个图形化界面，用户可以 创建一个新程序, 或修改、删除一个已有的测试程序.
大多数情况下，用户只需简单地从器件库中选出某种类型的器件，就能进行测试 _ PFL 也允许用户对测试类型和参数进行相当程度上的修改。
好的器件信号可以作为参照信号存储起来以供用户查看，可按器件引脚顺序或按差错率降序顺序来排列和查看待测器件的信号。另外，对于不同制造商生产的同一型号的器件，可按制造商的名称来存储各自的参照信号。这可以消除由于各制造商生产的器件间的差异而造成的误判断。
2)查看ASA信号
对于一个器件来说，每个屏幕最多可以显示10个信号。当查看一个多引脚器件的信号时，可用鼠标或↑、↓键来上下滚动屏幕。同时，可以：
3)调整ASA信号显示顺序
4)为信号制作硬拷贝
从 文件 菜单中选择 打印 命令，可将所选器件已存储的信号波形打印出来。选择 打印预览 命令，可在向打印机输出之前检查信号波形。

5)查看ICT数据

ICT 查看屏幕显示所选择集成电路的引脚连接图，以及测试期间引脚的逻辑时序图。

6)查看逻辑时序图
逻辑时序图显示所选器件在每个测试步骤时的引脚状态（测试步骤的序号显示在框图之上）。

7)查看连接数据
选择 ASA 连接 或 ICT 连接 ，将显示有关器件 连接 的数据。

九．电路板测试步骤
PFL780 提供了一个集成化的编程环境，用户可以同时使用 ASA 和 ICT 技术创建测试程序。
测试一块电路板有以下几个步骤：

1）创建一个新任务
从文件菜单中选择新建命令_PFL将打开一个新的测试列表窗口。
选择插入器件命令向列表中添加器件。
用测试命令来采集和验证器件的参照信号。
通过ASA,ICT和连接窗口查看器件信号。
用插入器件命令向测试列表中添加其它器件。
必要时为器件或电路板添加注释。
保存测试任务文件。
2）测试电路板
从 文件 菜单中选择 打开 命令来选择并打开电路板的测试文件。
从器件列表中选择一个待测器件。
单击 测试 按钮或踩下脚踏开关，对待测器件进行测试。
查看屏幕上的测试结果，确定测试是否 通过 ，或连续测试完文件中的所有器件。
3）排除测试类型
通常，器件将执行ASA、ICT和连接测试,用户需要的话可以禁止其中的某种类型的测试。从 电路板 菜单中选择 禁止测试类型 命令，然后将相应测试类型前的复选框取消 _ 待测器件将只执行剩下类型的测试。
如果某一测试类型被禁止，那么在测试列表窗口中将不能显示相应的选项。
4）使用电路板外观图
这是PFL780特有的一项功能。用户可以通过扫描仪、数字相机等设备获得待测电路板的图象（BMP文件），再在测试文件中打开此图象文件，将测试列表中的各测试器件与电路板图象上的器件一一对应，使测试过程更加直观醒目。

十．电路板故障检测系统高级编辑

测试参数的缺省值使用于大多数器件的测试。器件 菜单中的 高级编辑 命令允许用户对测试程序中每个器件的测试参数进行更改（例如，指定测试类型，设定不同的测试电平或频率，等等）。

高级编辑 菜单包含以下选项卡：
1)常规设置

设置器件的类型、索引、引脚数目和功能等的详细描述。

2)设定ASA测试参数

通过 ASA 选项卡可以设置待测器件器件的 ASA 测试条件（电压范围、频率等）。指定电压范围、设置比较的精度、频率 _ 设定测试频率、预充电 _ 控制采集信号的频率及是否为逐个引脚比较等。

3)设定ICT测试参数（仅PFL780具有）

可以调整 ICT 测试的参数（逻辑电平以及步长）。
4)使用脉冲信号发生器 在测试过程中需要使用脉冲信号发生器时，选择方式1，方式2或直流等脉冲方式。
5)引脚名称可更改器件引脚的名称，如IRQ, CLK等等。
6)对于器件某引脚禁止其测试结果允许用户对一状态不稳定的引脚,禁止使用一种或全部四种测试类型，以排除偶然性干扰对测试结果的影响.
十一．数据记录

1)数据记录功能
选择数据记录选项可以为待测电路板类型建立数据记录.使用数据记录,用户可以收集到有关电路板的统计数据或器件的故障率(用于质量管理和生产过程控制).

2)打印测试程序
从文件菜单中选择打印命令可以得到一份测试程序的硬拷贝_ 一份器件及其相关的测试参数的列表.打印前,可从文件菜单中选择打印预览命令查看测试文件.使用打印预览工具栏可以整篇浏览测试文件.

十二.技术支持与培训
Polar 公司将指导常规的技术培训并解答有关PFL 测试操作和 ASA 及 ICT 测试技术的问题 _ 请与本地的Polar公司代理商联系以获得更多的帮助。

北京金三航科技发展有限公司
网址:www.17.net.cn
电话:010-51662244
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选购附件
●SMD及IC测试棒
 

  ●IC测试夹DILIC

  专用介面转换器

信赖的技术,展新的应用
    使用已被证实的断电测试法,如:Tracker Signature Analysis,它消除了更多的电路毁损的风险,通常发生在电力供应中.Huntron Trackers适合现今混合模拟与数字讯号电路卡, Tracker2800的特色是多变范围参数可产生超过100种电压,来源电阻与频率的组合.对自动的Huntron存取探测侦断系统而言,2800系列是一个强大的脱机支持工具.

    新一代的Tracker2800与Tracker2800S使用彩色触碰屏幕对可控制已选定的参数为一大特色,譬如直流电压源控制,接脚选择(2800S)和通道A/B交替率.Huntron Tracker2800系列显示器提供了一个快速的窗口更新速度以致于能接近静电CRT显示速度,并对零组件接脚的快速隔离,然而增加这个选项, 如同补强Huntron Tracker Model 30系列扩充的测试涵盖范围.

    Tracker 2800S可扫描比对40pins/channel,使用标准IC的芯片和电缆经机台前面来连接标准IDC型式的连接器.并且可手动比对或自动比对.可让您快速获得signatures的差异.
 
Tracker Signature Analysis
    Tracker 动作借着供应一个限电流交流讯号通过零组件的两端.电流会导致一个垂直的讯号偏折,此时供应电压会产生一个水平的偏折.在测试下,它们一起形成了一个独特的V/I讯号而显示出整个组件的状况.分析此讯号可快速地得知此零组是否好或不好或在临界点. 
 
产品介绍：
· 信号图像和功能菜单显示在彩色LCD显示器上
· 使用Huntron特有的Tracker Signature Analysis技术
· Huntron SigAssist™也可在显示器上显示
· 通过用每个频道扫描对比40个引脚扫描和对比来提高检修速度
· 适用于桌面或现场检修

值得信赖的技术，全新的应用领域
    Huntron Tracker2800S开拓了在关闭电源的情况下测试低电压逻辑电路的能力。其低压范围使其能理想地对一些电路中即使有高电容值的被动元器件也能进行测试。源电压，源电阻及测试频率都清楚表明在前面板上。Tracker2800S可用标准的IC夹具和导线，来进行多信道的扫描比对，最多可至40个引脚。手动或自动的对比可以很快的找出信号的差别。内建0-5伏DC电压发生器能够作为门极驱动源来驱动，如SCR和光耦合器，这样这些元器件便能在开和关的状态下都能进行测试。Huntron Tracker2800S是维修工程师的理想装配。通过Tracker Signature Analysis断电状态下的测试方法， 避免了电路遭受通电时可能发生的损坏。

    Tracker2800S可配合Huntron’s SigAssist™的特点，能显示实时数字信息，这些信息与所显示的信号直接相关。此类信息如崩溃电压值、电阻值、电容值和功率都能显示在LCD上，以帮助解释信号含义。

对于排除故障的挑战
    现今复杂的切换开关式电源多具有fail-safe保护电路，其包含许多被动元器件，使得它们在电路中很难进行测试。Tracker2800S具有200m 伏的电压测试范围文件，而不会打开并联固体元器件，因此能够对电阻器、电容器和电感器进行测试分析。从本质上而言，被动元器件像是被取出电路外来进行测试的。

    由于当今的一些电子元器件采用3伏电压或更低的逻辑电路，所以Tracker2800S 的低压测试范围使它成为一个理想的测试工具，能有效检测此类产品。Tracker2800S具有5种频率，每种具有21文件供选择的电压/电阻范围，所以总共具有105种测试电压、源电阻及测试频率组合。

Tracker信号分析
    Tracker可将一有限AC电流信号加至元器件的两端。电流流过造成轨迹的垂直偏差，而应用电压造成一个水平的影响。它们合成出唯一的一个V/I信号，它代表被测元器件的整体的状态。分析这个信号可以很快的判断出这个组件是好，是坏或是在边缘状态。

技术参数：

产品介绍：
    • 测试范围广的先进故障检测技术
    • CRT双重信号轨迹显示，可快速地对元器件进行比较
    • Huntron特有的STAR特点可通过设置测试参数来控制通过IC的电流不超过额定电流，以防止它的损坏
 
    Huntron® Tracker® 4000运用了模拟信号分析的最新技术来检修故障。双信道的CRT显示屏可快速地比较好的元器件与待测元器件，如此即能检测出细微的问题就比如IC的泄漏，间歇故障，开路电容等。检测所有问题在测试时都不需要通电，壁免造成其它损坏。
 
    Tracker 4000支持超过6000种电压，源电阻和测试频率的组合以供选择。共20个用户测试组能够被储存在内部，并且每组带有四个测试范围，所以最有可能的测试参数的范围可得出元器件信号的最佳显示。Huntron特有的STAR(安全追踪活动范围)的特点能通过设置测试参数低于其目前的限度来防止损害零件。
 
    内建的脉冲波发生器能做门极驱动的测试,比如SCRs and TRIACs.
 
测试的多样性
    多样的测试参数的范围使Tracker 4000有能力检测大范围的零件。被动元器件,表面贴片元器件,低电压逻辑电路,CMOS,TTL和混合信号技术的电路板都能适用于Tracker 4000的测试范围内。
 
    用不同的电压,电阻和频率的组合来测试电路使得用户能有效地隔离出元器件，本质上消除了并联的影响。比如：用200mV去测一个电容，则与它并联的半导体元器件皆维持不导通，如此测试此电容就如同将电容取出电路外来测试。若用高电压，低频率测试就能消除电容的影响而显示与其并联元器件的信号。

技术参数：

产品介绍：

    · 信号图像和功能菜单显示在彩色LCD显示器上
    · 使用Huntron特有的Tracker Signature Analysis技术
    · Huntron SigAssist™也可在显示器上显示
    · 通过用每个频道扫描对比40个引脚扫描和对比来提高检修速度
    · 适用于桌面或现场检修 

值得信赖的技术，全新的应用领域

    Huntron Tracker 2700S开拓了在关闭电源的情况下测试低电压逻辑电路的能力。其低压范围使其能理想地对一些电路中即使有高电容值的被动元器件也能进行测试。源电压，源电阻及测试频率都清楚表明在前面板上。Tracker 2700S可用标准的IC夹具和导线，来进行多信道的扫描比对，最多可至40个引脚。手动或自动的对比可以很快的找出信号的差别。内建0-5伏DC电压发生器能够作为门极驱动源来驱动，如SCR和光耦合器，这样这些元器件便能在开和关的状态下都能进行测试。Huntron Tracker 2700S是维修工程师的理想装配。通过Tracker Signature Analysis断电状态下的测试方法， 避免了电路遭受通电时可能发生的损坏。 

    Tracker 2700S可配合Huntron’s SigAssist™的特点，能显示实时数字信息，这些信息与所显示的信号直接相关。此类信息如崩溃电压值、电阻值、电容值和功率都能显示在LCD上，以帮助解释信号含义。 

对于排除故障的挑战

    现今复杂的切换开关式电源多具有fail-safe保护电路，其包含许多被动元器件，使得它们在电路中很难进行测试。Tracker 2700S 具有200m 伏的电压测试范围文件，而不会打开并联固体元器件，因此能够对电阻器、电容器和电感器进行测试分析。从本质上而言，被动元器件像是被取出电路外来进行测试的。 

    由于当今的一些电子元器件采用3伏电压或更低的逻辑电路，所以Tracker 2700S 的低压测试范围使它成为一个理想的测试工具，能有效检测此类产品。Tracker 2700S具有5种频率，每种具有21文件供选择的电压/电阻范围，所以总共具有105种测试电压、源电阻及测试频率组合。 

Tracker信号分析

    Tracker可将一有限AC电流信号加至元器件的两端。电流流过造成轨迹的垂直偏差，而应用电压造成一个水平的影响。它们合成出唯一的一个V/I信号，它代表被测元器件的整体的状态。分析这个信号可以很快的判断出这个组件是好，是坏或是在边缘状态。 

技术参数：

产品介绍： 
    · 信号图像和功能菜单表显示在彩色LCD显示器上
    · 使用Huntron特有的Tracker Signature Analysis技术
    · Huntron SigAssist™也可在显示器上显示
    · 测试低电压逻辑电路，可避免超出元器件的额定电压
    · 适用于桌面或现场检修
 
值得信赖的技术，全新的应用领域 

    Huntron Tracker 2700开拓了在关闭电源的情况下测试低电压逻辑电路的能力。其低压范围使其能理想地对一些电路中即使有高电容值的被动元器件也能进行测试。源电压，源电阻及测试频率都清楚表明在前面板上。内建0-5伏DC电压发生器能够作为门极驱动源来驱动，如SCR和光耦合器，这样这些元器件便能在开和关的状态下都能进行测试。Huntron Tracker 2700是维修工程师的理想装配。通过Tracker Signature Analysis断电状态下的测试方法， 避免了电路遭受通电时可能发生的损坏。
 
    Tracker 2700可配合Huntron’s SigAssist™的特点，能显示实时数字信息，这些信息与所显示的信号直接相关。此类信息如崩溃电压值、电阻值、电容值和功率都能显示在LCD上，以帮助解释信号含义。
 
对于排除故障的挑战
    现今复杂的切换开关式电源多具有fail-safe保护电路，其包含许多被动元器件，使得它们在电路中很难进行测试。Tracker 2700 具有200m 伏的电压测试范围文件，而不会打开并联固体元器件，因此能够对电阻器、电容器和电感器进行测试分析。从本质上而言，被动元器件像是被取出电路外来进行测试的。
 
    由于当今的一些电子元器件采用3伏电压或更低的逻辑电路，所以Tracker 2700 的低压测试范围使它成为一个理想的测试工具，能有效检测此类产品。Tracker 2700具有5种频率，每种具有21文件供选择的电压/电阻范围，所以总共具有105种测试电压、源电阻及测试频率组合。
 
Tracker信号分析
Tracker可将一有限AC电流信号加至元器件的两端。电流流过造成轨迹的垂直偏差，而应用电压造成一个水平的影响。它们合成出唯一的一个V/I信号，它代表被测元器件的整体的状态。分析这个信号可以很快的判断出这个组件是好，是坏或是在边缘状态。
 
技术参数：

产品简介：

在维修电子设备，特别是维修数控机床电路板时是否因无图纸而束手无策，是否因为高昂的维修费用无望而却步。
 
    本公司所有科研人员经过多年地大量实验与总结经验，研制出一套综合维修测试系统，可以非常快速地诊断出电路上故障部位，并配有完整地顶级维修工具，使维修人员可以非常顺利地进行维修或更换电路、元气件。
 
    本系统可以对电路进行数、模及逻辑上完整地在线、离线测试，对电路工作原理，元气件的好坏及有无短路等故障做出判断，给维修人员指定问题元气件。
 
    本系统具有控制服务器，并配有特殊地测试软件，可以非常轻松地诊断及分析电路故障，并可存储特殊故障范例，以备以后同类故障地快速诊断。

控制分析软件界面

1CSS 电路测试仪 1台
2CSS 电路在线测试仪 1台
3CSS IC元器件测试仪 1台
4CSS 控制服务器 1台
5CSS 控制及分析软件 1套
6CSS 数字万用表 1台
7CSS 维修工具组 1套
8CSS 控制台 1套
9CSS 工具柜 1个
10CSS 定温焊铁 1个
11CSS 热风吸锡系统 1台
12CSS 抗静电焊台 1台
13CSS 可编程数控电源 1台
14CSS 螺丝批（一字和十字） 1套  
可以任意增加上述设备作为选件。

产品简介：

    在维修各种电子设备时，您是否常因图纸资料不全而束手无策？您是否常因高昂的维修费用而增添烦恼？
高能检测仪GT-4040P帮助您解除电路板维修中的烦恼。 高能检测仪配合电脑使用，全部智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检测到电路板上故障元器件。
*先进的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好；
*友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家；
*无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修；
*40路数字电路测试功能，备有TTL、CMOS及中大规模集成电路数据库；
*40路/2路（ASA）V/I曲线分析测试功能；
*电路板测试存储功能，被测板可与之比较；
*真正的总线动态隔离信号，使IC测试更加准确；
*全面电路网络表提取，使您方便画出相应原理图；
*全面存储器测试，方便您对存储器测试及在线读取；
*简单编程语言，使您自行扩充库成为现实；
*与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便。

工作原理:

（Analog Signature Analysis）对元件每个管脚提供一个安全、低功率的扫描驱动电压信号，以便产生一个阻抗特性图并在CRT上显示，且可存储，以备比对。所有测试都是在静态下（不加电）执行，所以不会伤害到元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形，并且对各类分立元件如：电阻、电容等同样有效。
（In Circuit Testing）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态、元件输入管脚的输入波形，同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，还可识别不明型号的IC。

主要测试功能:

数字IC功能测试

    本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测试74系列、4000/4500逻辑IC、75系列接口IC等两千余种集成电路。将测试仪上的5V外供电源通过随机所带电源钩引到被测板，再把测试夹夹在被测IC上，输入其型号，测试仪就在微机的控制下，自动进行测试，并将结果显示出来。在这个过程中，测试仪首先检查是否对被测板正确供电，然后检查测试夹同被测IC是否接触良好。一切正常，再检查被测IC各管脚处于何种状态（比如电源，地、输入/输出等）以及哪些管脚短接在一起，据此求出相应的测试码，送到被测IC输入端，再从IC输出端取回对测试码的响应。将取回的实测响应和计算出的预期响应相比较，就能发现故障。（后驱动隔离技术：后驱动隔离技术由美国施伦伯杰公司的Factron在68年提出。早在这类在线维修测试仪出现之前，就在生产用大型针床式电路板测试仪上得到广泛应用。该技术利用了半导体器件允许瞬态过载的特性，向被测IC的前级输出灌进瞬间大电流，强迫其按测试需要由高变低或由低变高。达到被测IC输入在线施加测试码的目的。） 　

快速测试

    故障电路板上有许多中小规模IC，究竟哪些IC是有问题的，可利用”快速测试”迅速进行筛选。此功能仅给出IC是否通过测试的结果，不提供任何故障诊断信息。下一步用诊断测试对未通过测试的IC作进一步的检查。

诊断测试

    该测试不仅给出测试是否通过的信息，测试过程中的测试码波形、响应波形、各管脚的逻辑状态、测试前的管脚电平、管脚的连接关系以及器件图都能显示出来，供您查阅。比较预期响应和实际响应的不同，可进一步了解IC测试失败的原因。 图为74ls24的管脚电平和连接关系

IC循环测试（Loop Test）

    该功能专为检查因温升造成的故障而设。有的IC开机运行几分钟后，由于温升而失效，当停机后寻找故障时，温度降低功能又恢复正常。这种故障使维修人员深感头痛，”循环测试”功能有助于发现这种问题。

无型号IC识别

    功能测试时必须键入被测IC的型号，但经常有IC型号不清楚或故意擦掉的情况，使得测试工作无法进行。本功能可迅速把无型号的IC的型号自动查出来显示在屏幕上。但这种查找必须是器件库内有的，并且功能必须完好。

离线测试

    上述几种测试功能均可在随机的离线测试器上进行。并且结果更准确。可用器件筛选，或对在线测试有问题的器件做进一步的确认。

数字IC状态测试

    路板上每个数字器件，在加电后都有3种状态特征：各管脚的逻辑状态（电源、地、高阻、信号等）、管脚之间的连接关系、输入输出逻辑关系。当器件损坏后，其状态特征一般都要发生变化。测试仪能够把好的电路板上各IC的状态特征提取出来，存入微机的数据库中，然后与同类有故障的电路板进行比较，从而可相当准确的找到故障器件。这类学习的板越多，日后的工作越方便。 这种测试方法不仅适用于器件库中已有的IC，也适用于库中没有的IC。是检测各种专用器件、PAL、GAL、EPLD等可编程器件以及大规模集成电路强有力的手段。

VI曲线分析测试
 

    本测试功能建立于模拟特征分析技术之上。可应用于模拟、数字，各种专用器件、可编程器件以及大规模、超大规模器件。 使用测试仪进行此项测试十分简单。只需用探棒点到好板子上的元件管脚上，或者用测试夹夹在器件上，测试仪就能自动把该结点的特征曲线提取出来，显示在计算机屏幕上，最后存入计算机中。通过同样简单的操作，可以将库中的曲线和新测到的曲线在屏幕上同时显示出来。比较两者之差异就能发现故障。 曲线在计算机中是以电路板为单位存放的。一个板一个文件，板上所有结点的曲线都放在该文件中，没有容量限制。允许用软盘拷贝出来。 该项测试一般要求在被测板不加电的情况下进行检测（只是注意板子上的电压不能高于扫描电压），这在很多情况下有助于进一步确认故障。 逻辑器件管脚节点处含有R、C、L元件，或者是模拟集成电路的故障，用”IV曲线分析”方法是很有效的。 “VI曲线”反映了节点处的阻抗特性，实际电路中的曲线形状是多样的，我们要熟悉典型元件的曲线形状；如纯电阻为直线，其斜率大，阻值小；纯电容为一椭圆，椭圆的Y/X轴比例越大其容量也越大，以及我们常见的二极管、稳压管等不对称非线性PN结特征曲线等等。实际电路中提取的VI曲线必是这些典型曲线的合成。所以根据实际电路节点的VI曲线几何形状，可大致推测出该节点是哪些元件组成的；反之也可推测出某些属性节点提取的曲线的大概形状。如果比预测形状相差甚远，肯定有问题。 ” VI曲线分析”还有另一个实用性：即当电路板上芯片温度异常过热，为了避免扩大故障范围，不适于加电测试时，可改用”VI曲线分析”（不加电）逐个管脚检查，能确切地定位故障点。 测试时需要注意的是当元件阻值（或阻抗）过大（R>300K，C<500PF）、过小（R<10，C>400uF）时，其曲线与开路、短路无法区分。VI曲线分析的这种局限性供您工作中参考。 　

全面存储器测试

    全面存储器测试可对SRAM/DRAM，PROM/EPROM存储器共1500余种；
进行在线/离线、快速/完全测试，满足不同测试需求。 对PROM/EPROM，将其中的内容读取出来，和以前电路板无故障时读出并存储在计算机中的内容相比较，不一致则说明有问题。 DRAM/SRAM，在测试期间先写入，再读出。写入内容和读出内容不一致则说明有问题。

快速测试
    其特点是测试速度很快，用于迅速检测被测存储器是否有故障。它不遍历每个存储单元，只按一定算法取部分存储单元进行测试。
 
完全测试
 
    遍历每个存储单元，所以可把PROM/EPROM中的内容全部读出来，存成二进制文件，供用户复制或剖析。
离线测试

对未焊接在板子上的存储器进行测试，离线测试只有完全测试。 　

在线测试

    对焊接在板子上的存储器进行测试。存储器测试的特点是时间长。完全测试一个2K容量的存储器，也比最复杂的逻辑器件所用时间长得多。所以在线测试支持快速测试和完全测试。并且对完全测试进行了特殊处理，使得既能访问到每一个存储单元，有能保证测试安全。 存储器往往都挂在总线上，要保证在线测试准确，需用GUARD信号进行总线隔离。测试存储器所需要的时间与存储容量成正比。对一个容量1K字节的读写存储器进行完全测试（即遍历每一个存储单元），至少需要4096个测试节拍。对容量为2K、4K、8K的存储器，其测试时间分别是测1K存储器的2倍，4倍，8倍。 　

LSI分析测试

    LSI测试分析与中小规模IC的测试原理有很大差别，主要不同点在于：LSI内部结构与中小规模IC不同，其输入输出逻辑关系不能直接确定。一片LSI器件的功能一般都由许多子功能组成，如CPU器件就有取数、中断、复位等，也往往有不同的使用方式，如8086就有大小模式之分。对LSI的测试就是对它的每一个子功能都用一段相应的测试码进行测试，我们称之为”子测试”，也就是说每个子测试只测一片LSI器件的一项子功能。通过好坏板上的子测试的比较情况来判断被测LSI器件是否有故障。 测试分析LSI首先要”离线学习”，以得出”参考文件”，再”离线测试”，以得出被测LSI的准确数据备用，然后”在线学习”好的被测板上的相同的LSI数据存入硬盘供日后与故障板进行比较。一片好的LSI器件，”离线测试”时应通过全部子测试，但在线时由于实际使用方式的不同，有的子功能使用，有的子功能不使用。那么好的LSI器件”在线学习”时，对其不使用的子功能（或方式），在进行”子测试”时，允许它不通过（失效）。因此这就要求先用一块好电路板，通过学习其上的LSI器件，可确定通过了哪些子测试，哪些没有通过并存入盘内，供日后对相同的、有故障的电路板做对照比较测试。如果与当时存入的那些子测试的通过情况不同，则表示该器件可能有问题。 　
电路网络表提取及测试 　

A.全面电路网络表提取
    为了得到被测电路板的电路图，以便日后更好地开展维修工作，您往往希望得到被测电路板的电路图。也许您（包括许多人）已经用万用表尝试过此项工作，用测试仪的此项功能您会有重新体会。 所谓”全面”网络表提取，是指测试仪提供三种操作模式，能够处理各种元器件之间的连接关系的提取。 　
测试夹 ――― 测试夹
这种模式主要用来处理数字IC之间的网络提取。用逻辑信号来检查IC之间是否直接相连。提取速度快，工作效率高。 　
测试夹 ――― 测试探棒
这种模式主要用来处理IC和分立元器件（包括一端是可使用测试夹的IC，一端是不能使用测试夹的IC）之间的连接关系。 　
测试探棒 ――― 测试探棒
这种模式主要用来提取分立元件之间（包括不能使用测试夹的IC）的连接关系。 后两种模式更多地涉及到模拟器件，所以用模拟信号来检查元器件之间的连接关系。目前的测试仪在后两种模式下，能够识别约8欧姆以上电阻、3.2毫亨以上电感和400微法以下电容。

B.全面电路网络测试

    目前的电路在线维修测试仪，其各种测试功能，都是用于检查电路板上元器件的功能性故障的。对于电路板本身的故障，比如由于断线或金属化孔不通造成的开路故障；焊接或引线毛刺造成的短路故障则无能为力。由于这类故障往往不以元器件的功能异常表现出来，而是表现为电路板网络表的改变，所以，利用从好的电路板上”学习”到的网络表，去同相应的故障板做对照检查，就能发现电路板本身的开路/短路故障。 一般而言，在维修工作中，电路板的开/短路故障相对比较少见。而在电路板的生产调试中，绝大部分故障都是这种故障。所以，网络测试功能不仅使得测试仪能够更好地应用于维修测试，而且使它能够有效地用于小批量电子产品生产中的电路板故障检测。 网络测试的使用过程和提取基本一致。比较是否有错由计算机自动完成，并将出错结果在屏幕上显示出来。
完善的辅助测试功能使检测更加可靠、准确
 
*真正的总线动态隔离信号
    从在线测试角度看，有两个以上的三态器件，其输出并接在一起就构成总线。测试期间的总线竞争是导致误判的最常见原因之一。而静态总线隔离信号是危及测试安全的常见情况。测试仪提供给您的是真正符合后驱动要求的动态隔离信号。只要简单地将它引到造成竞争的IC的使能端，该信号将在测试瞬间将该IC从总线上隔离开，保证测试准确。 　

*测试夹接触检查

    IC管脚氧化锈蚀、保护涂层未打磨干净或测试夹未夹牢靠都会造成接触问题。这是造成错误测试结果的又一常见原因。测试仪会在测试前检查接触情况、发现问题将及时在屏幕上提示出来。

*自动加上拉电阻

     测试仪可以识别集电极开路器件，在测试时加1K上拉电阻、无需另外费心。 　

*掉电监测

    这是一项十分重要、用户需要十分关注的功能。瞬间掉电（电网上的强烈干扰，电源接插件晃动等）往往发生于你毫无察觉的情况下。它会使测试仪电路状态混乱，导致测试通道失控，从而危及被测板电路的安全。大多数情况下会造成器件特性软化，工作寿命降低。但这种损坏，用户往往当时难以察觉。测试仪设有全面硬件掉电监测，可在掉电恢复后，立即（毫秒级）将电路及测试通道置于预期状态。