英国ABI-AT系列全品种集成电路测试仪下载

大测试管脚:192脚

测试适用范围：
元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹)

测试原理(v-i曲线测试)：

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.

商品输入检验

不需要电子专业知识.
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定各种测试条件.
可提供完整的元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:

-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意: SENTRY不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

测试通道

标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。
升级模块：64通道
可扩充到192/256个测试通道。

用两种模式扫瞄:

•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。
•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

通用型PLCC转接器(用于测试有20～84脚的PLCC封装)

数据库

    用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。

结果比较型式:

将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较
• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

软件- 灵活性

1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,
2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件

报告

1)软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2)用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3)为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

针印(PinPrint)动态阻抗详细分析元件的管脚.

定制化的报告(PinPrint).

转接器

1)标准型:

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封装; 也有提供SENTRY校正工具组。

标准SOIC转接器

通用型:

用于SOIC及PLCC封装; 一个转接器即适用于各种芯片尺寸, 测试有20、28、32、44、52、68、84脚的集成电路。

一个转接器即适用于测试宽0.15”～0.6”达44脚的集成电路。

客制型:

可订制各种封装的转接器, 包括: BGA、QFP; 请进一步洽询, 以设计符合您需求的转接器。

BGA插座转接器

技术规格

技术参数:SENTRY-AT256

仪器用途一
翻新及二手器件检测

• 可由仓库部门在收到集成电路时进行检查, 以确保收到的集成电路是真品; 商品输入部门的员工不需要电子知识即可操作这个系统。
• 检查可能伪造的集成电路, 并分析供货商的测试数据。用户可应用完整的报告, 确定问题的来源。

翻新及二手器件检测仪

能快速简单检测出翻新IC及集成电路测试的解决方案。

透过精密的PinPrint(针印)测试算法则,能够辨识出有不同内部结构或根本没有结构, 甚至是由不同厂家所制造的集成电路。

他就像您的电子守卫, 守卫在您生产设备之入口, 不受伪造元器件之渗透伤害。

何谓伪造翻新集成电路

Counterfeit [koun-ter-fit](形容词): 意思是仿造, 以便虚伪不实地假装是真品。

    制造膺品(仿冒品)集成电路是非法的, 会出现(仿冒品)是因为电子零件的可转让。全球任何需要制造PCB集成电路的公司都在承担这个风险, 也或许曾经收到过大批的”不良”元器件。

    仿冒可透过各种过程达成: 在极不可靠的过程里, 把集成电路从报废/弃置的电路板中取出, 接着作表面处理维修; 再加上伪相关信息于集成电路上, 包括制造厂商标, 然后拿来当作真品卖给粗心的买家。另一个方法则是真的凭正规的制造能力, 在标准工时以外的大夜班(ghost shift)生产集成电路, 然而, 以那种方式生产的芯片含有许多制造上的瑕疵, 有些甚至没有硅片(silicon die)。

    很不幸地, 得一直等到把它们放在PCB上, 在生产团队对完整的组装进行第一次测试时, 才可能鉴别到仿造的集成电路。如此将导致昂贵的过程－辨识问题集成电路、再把它们从生产中的所有电路板上拿掉。在某些情况下, 甚至得把整批成品回收回工厂。

    5年来, 仿冒集成电路的举发呈倍数地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球贸易总额的8%以上, 相当于损失60亿的销售额。

英国ABI-AT系列全品种集成电路测试仪下载

最大测试管脚数:256

测试适用范围：

元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试
电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹)

测试原理(v-i曲线测试)：

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。
被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。
测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

集成电路测试操作如此简单:

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
2.将集成电路插入测试座.
3.执行测试
4.得到PASS或FAIL的测试结果.

商品输入检验

不需要电子专业知识.
适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板
灵活、好安装、宜操作.
测试结果直接: PASS或FAIL.
软件可设定各种测试条件.
可提供完整的元件测试分析报告.

适合不同封装形式的元件:

-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
-球门阵列封装(BGA)
注意: SENTRY不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

测试通道

标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。
升级模块：64通道
可扩充到192/256个测试通道。

用两种模式扫瞄:

•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。
•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

通用型PLCC转接器(用于测试有20～84脚的PLCC封装)

数据库

    用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。

结果比较型式:

将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较
• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

软件- 灵活性

1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,
2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件

报告

1)软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。
2)用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。
3)为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

针印(PinPrint)动态阻抗详细分析元件的管脚.

定制化的报告(PinPrint).

转接器

1)标准型:

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封装; 也有提供SENTRY校正工具组。

标准SOIC转接器

通用型:

用于SOIC及PLCC封装; 一个转接器即适用于各种芯片尺寸, 测试有20、28、32、44、52、68、84脚的集成电路。

一个转接器即适用于测试宽0.15”～0.6”达44脚的集成电路。

客制型:

可订制各种封装的转接器, 包括: BGA、QFP; 请进一步洽询, 以设计符合您需求的转接器。

BGA插座转接器

技术规格

技术参数:SENTRY-AT256

仪器用途一

翻新及二手器件检测

• 可由仓库部门在收到集成电路时进行检查, 以确保收到的集成电路是真品; 商品输入部门的员工不需要电子知识即可操作这个系统。
• 检查可能伪造的集成电路, 并分析供货商的测试数据。用户可应用完整的报告, 确定问题的来源。
 
翻新及二手器件检测仪

能快速简单检测出翻新IC及集成电路测试的解决方案。
透过精密的PinPrint(针印)测试算法则,能够辨识出有不同内部结构或根本没有结构, 甚至是由不同厂家所制造的集成电路。
他就像您的电子守卫, 守卫在您生产设备之入口, 不受伪造元器件之渗透伤害。
 
何谓伪造翻新集成电路

    Counterfeit [koun-ter-fit](形容词): 意思是仿造, 以便虚伪不实地假装是真品。

    制造膺品(仿冒品)集成电路是非法的, 会出现(仿冒品)是因为电子零件的可转让。全球任何需要制造PCB集成电路的公司都在承担这个风险, 也或许曾经收到过大批的”不良”元器件。

    仿冒可透过各种过程达成: 在极不可靠的过程里, 把集成电路从报废/弃置的电路板中取出, 接着作表面处理维修; 再加上伪相关信息于集成电路上, 包括制造厂商标, 然后拿来当作真品卖给粗心的买家。另一个方法则是真的凭正规的制造能力, 在标准工时以外的大夜班(ghost shift)生产集成电路, 然而, 以那种方式生产的芯片含有许多制造上的瑕疵, 有些甚至没有硅片(silicon die)。

    很不幸地, 得一直等到把它们放在PCB上, 在生产团队对完整的组装进行第一次测试时, 才可能鉴别到仿造的集成电路。如此将导致昂贵的过程－辨识问题集成电路、再把它们从生产中的所有电路板上拿掉。在某些情况下, 甚至得把整批成品回收回工厂。

    5年来, 仿冒集成电路的举发呈倍数地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球贸易总额的8%以上, 相当于损失60亿的销售额。

系统简介:

　　电路是半导体集成电路中的重要组成部分，通用中、小规模集成电路虽己应用多年，但依然在各种民用电子产品和军用电子装备中发挥着重要的作用。

由于通用中、小规模集成电路在我国电子产品和装备中占有较大的使用比例，其品质直接影响着各种电子整机和系统的性能和可靠性，因此对通用中、小规模集成电路必须进行严格的测试和筛选。

为满足各种通用中、小规模集成电路的测试需求，北京金三航科技发展有限公司自行研制生产了SHtek4250A集成电路测试系统。该系统是SHtek4250A系列电子元器件测试系统的组成部分，适用于74/54、74LS/54LS、74HC/54HC、74HCT/54HCT、CD4000等各类通用中、小规模集成电路的逻辑功能和直流参数测试。

系统测试覆盖面宽，测试精度高，性能稳定，操作使用方便，在微小电流测试方面具有独到的设计和采用特殊的工艺措施，特别适合于CMOS器件的测试要求。系统是通用中、小规模集成电路功能、参数检测及质量保证的必备设备。系统己被航天、航空、兵器、船舶、核工业、信息产业等军、民品领域的科研院所和企业广泛应用，同时也被我国的CMOS电路国军标生产线确定为指定检测设备。
 
产品简介:

*适用于通用中、小规模集成电路的逻辑功能和静态直流参数测试。
*测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准和行业标准。
*3组程控电源，24个可编程I/O通道，2组可编程输入驱动电平和2组可编程输出判别电平。
*1nA 电流测试分辨力，并具有良好的测试精度和稳定性，可满足国军标CMOS电路的测试要求。
*支持OC门、OE门和3S门器件的逻辑功能和静态直流参数测试。
主要技术指标:
 

主要测试参数:

特点：
 
·可测试16脚以内通用的模拟器件，包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电
压调节器及部分特殊模拟芯片。软件可升级
·键入型号即可测试，结果显示在LCD屏上
·可识别无标记或无法辨别的芯片或列出代换的芯片
·可模拟被测器件周围的无源器件，以确保进行综合测试，或进行有条件/无条
件的循环测试
·可显示元器件单个管脚的诊断信息
·可使用整流电源或干电池，功耗低，可自动关机
·可测器件列表

AD546     LF411   LMC6032  CMP04   NE555    4N25      4016   ULN2001
AD548     LF412   LMC6042  LM111   NE556    4N26      4051   ULN2003
AD645     LM11    LP124    LM119   TLC555   4N27      4052   ULN2004
AD648     LM101   LP324    LM139   TLC556   4N28      4066   ULN2005
AD711     LM1O7   LT1013   LM193   TL062    4N29      4529   ULN2064
AD712     LM108   LT1014   LM211   TL064    4N30      DG201  ULN2065
AD713     LM118   MAX407   LM219   TL071    4N31      DG211  ULN2068
AMP03     LM124   MC3303   LM239   TL072    4N32      DG212  ULN2069
CA3130    LM148   MC3403   LM293   TL074    4N33      DG308  ULN2074
CA3140    LM158   MC33171  LM311   TL081    4N35      DG309  ULN2075
CA3160    LM201   MC33172  LM319   TL082    4N36      DG411  TLE2425
CA3240    LM207   MC33174  LM339   TL084    4N37      DG412  LM392
CA3260    LM208   NE531    LM393   TLC271   6N135     DG413  LM2924
CA5130    LM218   NE5532   LM2901  TLC272   6N136     DG417  uA7805
CA5160    LM224   NE5534   LM2903  TLC274   HCPL2530  DG418  uA7905
CA5260    LM248   OP07     LM3302  TLC277   HCPL2531  DG419  LM2930 5
HA3 28405 LM258   OP27     LP111   TLC279   HCPL4502  DG508  LM2931 5
ICL7611   LM301   OP37     LP211   TLC1079  ILD74     LF13201
ICL7612   LM307   OP37     LP311   TLC2272  ISD74     LF13202
ICL7621   LM308   OP77     LP239   TLE2061  ILCT6     LF13508
ICL7641   LM318   OP90     LP265   TLE2062  MCT2      REF02
ICL7642   LM324   OP97     LP339   TLE2064  MOC8030   REF03
LF147     LM348   OP200    LP365   TLE2161  AD7524    REF05
LF155     LM358   OP290    LP2901  uA741    DAC08     REF43
LF255     LM2900  OP490    LT1016  uA747    TLC7524   MAX667
LF347     LM2902  OPA121   TLC339  uA748
LF351     LM2904  OPA606   TLC372  L272
LF353     LM3900  RC4558   TLC3702
LF355     LMC660  TL061    TLC3704

产品简介：

1.可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP，测试容量：16K— 116M。
2.可自动测试芯片的好坏，也可先设定型号，再进行测试。
3.提供SINGLE TEST、LOOP TEST、PASS TEST、FAIL TEST四种测试方式。
4.细致的设置菜单，可设定测试电压及测试速度及是否自动关机等。
5.可准确显示故障位置 。
6.带有4*20字 8*5点的LCD显示屏。
7.可使用电源适配器，也可使用电池。

产品简介：
·可扩充的内装芯片，几乎囊括所有40脚以下的数字芯片和存储器、接口芯
片、MCU/MPU，软件不断升级
·使用、操作简便，输入IC型号，按测试键，测试结果即显示在LCD显示屏上
·可识别无标记或无法辨别的芯片或列出代换的芯片
·可显示具体某个脚的故障诊断信息
·可进行循环或有条件循环测试
·体积小，可使用整流电源，亦可使用电池工作

LinearMaster手持式模拟集成电路测试仪资料下载 

LinearMaster手持模拟集成电路测试仪特点：

·内置元件库可以扩充升级
·准确可靠的仿真测试
·全面性测试更加准确
·显示故障管脚的诊断信息
·查找未知型号元件
·元件代换查询
·与PC连接可以进行通讯与测试
·快速实现元器件扩充的编程软件
·可以选择不同封装的测试座
·电池与直流供电

LinearMaster手持模拟集成电路测试仪模拟器件全面性测试

    在测试过程中，施加必要的模拟信号到待测IC的输入端口，监测每一步骤的输出信息并将其与标准的电压值做比较，获得一个全面性的可靠的测试结果。全面的测试可确保测试结果的可靠。有条件的和无条件的循环测试模式可以准确检测到间歇性故障和与温度有关的故障。

全面仿真的功能测试

    功能测试就是该设备会自行仿真被动电路, 而去实现该元件工作在各种不同的增益或是电路状态.

编程工具使得测试功能更强大(专业的CompactLink编程通讯软件)(选配)

    可选的编程工具软件可以扩充器件库以外的元器件测试库，可以通过测试人员的编程建库，快速全面的建立并扩充测试库，与PC连接后实时在微机上完成测试操作。

    测试软件采用先进的技术，使得你的测试更理想化，扩充器件库与在线实时测试成为现实。

    LinearMaster模拟集成电路测试仪几乎包含了所有常见的模拟IC器件，如：运算放大器，电压比较器，电压调节器，模拟开关、多路转换器、光耦、耦合器，音频电路等，元器件库可以根据需求自己编程扩充.

 
ChipMaster手持式模拟集成电路测试仪资料下载  

ChipMaster手持数字集成电路测试仪循环测试-判定间歇性故障元器件更准确

    采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息.

ChipMaster手持数字集成电路测试仪简介:

    可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.

ChipMaster手持数字集成电路测试仪特点：

·操作简单方便
·内置元器件库可扩充升级
·未知IC型号查找
·显示单个管脚故障诊断信息
·元件代换查询
·可选SOIC和PLCC适配座
·可选编程软件与PC实时通讯测试
·电池与直流供电
·可以选择不同封装的测试座
 

ChipMaster手持数字集成电路测试仪功能:

 Single-对测试座上的IC进行单次测试.
Loop-无论结果如何,重复进行测试
P Loop-若测试结果为PASS,重复进行测试
F Loop-若测试结果为FAIL,重复进行测试
Search-识别测试座上IC的型号
Diags-进行自我诊断测试
CmLink-进入CompactLink 软件通讯模式
Sw Off-将本仪器关机

专业的CompactLink编程通讯软件(选配件)

 可以扩充元件库的编程软件;
与PC实时通讯测试软件;
允许用户根据软件增加新元器件库,并产生新的功能测试,可以满足特殊的应用;
软件采用PremierLink IC编程(PLIP);
高水平的测试编程描述语言;
最佳的模拟和数字测试程序;
可通过RS-232或者USB接口连接电脑;
本软件适合于ChipMaster和LinearMaster;

产品简介：

特色：
 
1.桌上型设计，结构紧密，操作简单
2.16字9×7点阵LCD显示，背光设计，光线不良的环境也可以操作自如
3.开机自我侦测，确保测试工作的品质和稳定性
4.提供24PIN测试座
5.测试元件电压为+/-5V~+/-24V
6.可测元件种类：
TIMEER，OP AMP，COMPARATOR，REGULATORS，ZENER，PHOTO COUPLER，
COMMUNICATIONS IC，DIRVER，SWITCHING POWER SUPPLY IC
7.可寻找功能类似IC号码

支援元件：

LM101 LM107 LM108 LM118 LM124 LM148 LM158 LM201 LM207 LM208 LM218 LM224 LM248 LM258 LM301 LM307 LM308 LM310 LM318 LM324 LM348 LM358 LM1458 LM2900 LM2902 LM2904 LM3900 LMC660 CA358 CA3130 CA3140 CA3240 CA3260 TL022 TL061 TL062 TL064 TL071 TL072 TL074 TL081 TL082 TL084 TL094 MC3303 MC3403 MC3503 MC34004 NE5532 NE5534 LF347 LF351 LF353 LF355 LF356 LF357 LF411 LF412 ICL7611 ICL7621 ICL7641 ICL7642 AD648 AD711 AD712 LT1013 LT1014 RC4558 uA741 uA747 uA748 OP07 OP27 OP37 OP42 OP90 OP97 OP290 OP490 TLC252 TLC272 LP124 LP324 HA17324 uPC451 C4082 CA3401
＊COMPARATORS
sLM139 LM193 LM239 LM293 LM339 LM393 LM2901 LM2903 LM3302 LP239 LP2901 TLC339 TLC393
＊ OPTO（OPTOCOUOLERS）
4N25 4N26 4N27 4N28 4N29 4N32 4N33 4N35 4N36 4N37 4N38 4N45 4N46 CNY75 H11A1 H11B1 H11D1 H11D2 H11D3 H11D4 K827P K847P MCT2 PC817 PC827 PC837 PC847 TIL111 TIL116
＊ VOLTAGE REGULATORS
uA7805…(LM2930-5.0,LM2931-50,LM2940CT-5.0) uA7806 uA7808 uA7809 uA7810 uA7812 uA7815 uA7818 uA7824 uA7905 uA7908 uA7912 uA7915 uA7924 LM217 LM317
＊ Zener REG.(SPECIAL FUNCTIONSDEVICE)
NE555 NE556 TLC555 TLC556 4016 4066 LM723
＊ TRANSISTOR ARRAY
ULN2001 ULN2003 ULN2004 ULN2005

产品简介：

特点: 
1. 桌上型设计,结构紧密,操作简单。
2.16字9×7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如。
3.开机自我侦测,确保测试工作的品质和稳定性。
4.可测试14到24脚,种数超过1800个编号的元件。
5.测试速度快,平均单个测试时间只需0.8秒。
6.支援IC种类为5V工作的数位IC:
(1).54/74 xxxx TTL系列。
(2).40/45/14xxx CMOS系列。
(3).其他功能相容的数位IC。
7.AUTO功能支援自动搜寻测试功能,使用者只需 要将IC放入SOCKET,不需要任何
按键动作,就可以连续测试不同编号的IC。
8.LOOP功能可以用来持续测试相同编号的IC,并检验IC品质和稳定性。
9.以不同的声音表示测试的结果。

规格：
1．体积：33.5x30x10.5cm
2. 重量：1.5kg
3. 操作温度：+5℃ to +45℃
4. 操作高度：达5000m
5. 操作湿度：达90％
标准配件 ： 主机 使用手册 AC 线 SOP 接角转接座

支援元件：

7400 7401 7402 7403 7404 7405 7406 7407 7408 7409 7410 7411 7412 7413 7414 7415 7416 7417 7418 7419 7420 7421 7422 7423 7424 7425 7426 7427 7428 7430 7432 7433 7434 7435 7436 7437 7438 7439 7440 7441 7442 7443 7445 7446 7447 7448 7449 7450 7451 74H52 7453 7454 74H54 7455 7460 74H61 7463 7464 7465 7470 7472 7473 7474 7475 7477 7478 74H78 7480 7481 7482 7483 7484 7485 7486 7487 7489 7490 7491 7492 7493 7494 7495 7496 74105 74107 74109 74110 74111 74112 74113 74114 74116 74125 74126 74128 74132 74133 74134 74135 74136 74137 74138 74139 74140 74141 74142 74143 74144 74145 74147 74148 74150 74151 74152 74153 74154 74155 74156 74157 74158 74159 74160 74161 74162 74163 74164 74165 74166 74168 74169 74170 74173 74174 74175 74176 74177 74178 74179 74180 74181 74182 74183 74184 74185 74189 74190 74191 74192 74193 74194 74195 74196 74197 74198 74199 74230 74231 74240 74241 74242 74243 74244 74245 74246 74247 74248 74249 74251 74253 74257 74258 74259 74260 74265 74266 74273 74274 74276 74279 74280 74283 74289 74290 74293 74295 74298 74299 74322 74323 74347 74348 74350 74351 74352 74353 74363 74364 74365 74366 74367 74368 74373 74374 74375 74377 74378 74379 74382 74386 74390 74393 74395 74399 74412 74425 74426 74445 74447 74465 74466 74467 74468 74490 74518 74519 74520 74521 74522 74533 74534 74539 74540 74541 74563 74564 74573 74574 74576 74580 74597 74620 74621 74622 74623 74638 74639 74640 74641 74642 74643 74644 74645 74646 74647 74652 74654 74668 74669 74670 74682 74683 74684 74685 74688 74689 74795 74796 74797 74798 74804 74805 74808 74810 74811 74821 74827 74832 74841 74874 741000 741002 741003 741004 741005 741008 741010 741011 741020 741034 741035 741036 741244 741245 4000 4001 4002 4006 4007 4008 4009 4010 4011 4012 4013 4014 4015 4016 4017 4018 4019 4020 4021 4022 4023 4024 4025 4026 4027 4028 4029 4030 4031 4032 4033 4035 4038 4040 4041 4042 4043 4044 4048 4049 4050 4051 4052 4053 4054 4055 4056 4060 4063 4066 4067 4068 4069 4070 4071 4072 4073 4075 4076 4077 4078 40H78 4081 4082 4085 4086 4093 4094 4095 4096 4097 4099 40100 40101 40102 40103 40104 40106 40109 40110 40147 40160 40161 40162 40163 40174 40175 40181 40182 40192 40193 40194 40257 4501 4502 4503 4504 4506 4508 4510 4511 4512 4513 4514 4515 4516 4517 4518 4519 4520 4522 4526 4527 4529 4532 4539 4543 4551 4553 4555 4556 4560 4561 4566 4572 4581 4584 4585

产品简介：

特色
1． 为测试线性 IC而设计
2． 可测元件：OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG、
N555 Series、Transistor Array
3． 轻小可携带、操作容易，可使用电池，非常省电，碱性电池可连续使用1000小时
4． 平均测试时间：0.8秒
5． 设有empty-load测试及设有自动电源开关装置

规格
1． 显示：16×1字LCD
2． 测试元件接脚数：14到24PIN
3． 测试电压：5V
4． 体积：16×11×4.5cm
5． 重量：0.34kg

支援元件：

* OP （OPERATIONAL AMPLIFIERS，COMPARATORS） OPERATIONAL AMPLIFIERS
LM101 LM310 TL022 LF347 UA741 LM107 LM318 TL061 LF351 UA747 UA748 LM118 LM348 TL064 LF355 OP07 LM124 LM358 LM071 LF356 OP27 LM148 LM1458 TL072 LF357 OP37 LM158 LM2900 TL074 LF411 OP42 LM201 LM2902 TL081 LF412 OP90 LM207 LM2904 TL082 ICL7611 OP97 LM208 LM3900 TL084 ICL7621 OP290 LM218 LMC660 TL094 ICL7641 OP490 LM224 CA358 MC3303 ICL7642 TLC252 LM248 CA3130 MC3403 AD648 TLC272 LM248 CA3140 MC3503 AD711 LP124 LM301 CA3160 MC340004D712 LP324 LM307 CA3240 NE5532 LT1013 HA17324 LM308 CA3260 NE5534 LT1014 UPC451 RC4558 C4082

* COMPARATTORS
LM139 LM193 LM239 LM293 LM339 LM393 LM2901 LM2903 LM3302 LP239 LP339 LP2901 TLC339 TLC393

* OPTO(OPTOCOUPLERS)
4N25 4N26 4N27 4N28 4N29 4N32 4N33 4N35 4N36 4N37 4N38 4N45 4N46 TIL111 TIL116 H11A1 H11B1 H11D1 H11D2 H11D3 H11D4 CNY75 MCT2 PC817 PC827 PC837 PC847 K827P K847P

* REG. (VOL TAGE REGULATORS)
UA7805…( LM2930-5.0, LM2931-50, LM2940CT-5.0) UA7806…(need to use DC adaptor) UA7905 LM217 LM317

* SPECIAL FUNCTIONS DEVICE
NE555 NE556 TLC555 TLC556 4016 4066 LM723

* TRANSISTOR ARRAY
ULN2001 ULN2003 ULN2004 ULN2005

产品简介:
1． 为测试数字 IC而设计
2． 可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44
3． 轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电
4． 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5． 平均测试时间：0.8秒

规格
1． 显示：16×1字LCD
2． 测试元件接脚数：14到24PIN

选择配件： *SOP adaptor

支援元件

·74 Serial ·40 Serial ·45 Serial ·41 Serial ·44 Serial

产品简介：

　　目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低，用这类仪器测试通过后的IC，有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼!

GT2100A数字集成电路多参数测试仪,帮助您解决这类烦恼！

GT2100A 数字集成电路多参数测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。
数字集成电路多参数测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、部队、IC经销商使用。

系统的主要特点:

1． 测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
2． 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
3． 真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
4． 对IC输入电流、功耗电流测试。
5． 输入漏电流及交叉漏电流测试。
6． 测试过程无须人工干预。
7． 用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
8． 可自动识别74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型号。

产品主要性能:

在功能测试的基础上
1. 测试器件的输入端注入电流。
2.测试器件的输入端交叉漏电流。
3.测试器件的输出端“三态”及“OC”门。
4. 测试器件的输出负载电流。
5. 测试器件的功耗电流。
6.查找未知芯片型号。
7. 可以单次测试，也可以循环测试.
8.可自动识别74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一个“C”字（此时被测器件电源为TTL电源）。

多值测试参数: 

1.8种可选择的测试电源。
2.根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。
3. 多种测试电压比较值。
4. 功耗测试。
以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。

测试模式: 

1.模式O： 全组合参数测试。
2.模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。
3.模式D： 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。
4.模式E： 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。
5.模式F： 自编程测试。

测试范围及测试品种: 28Pin

1. 54 系列；4500 系列；
2. RAM 256K bit
3.74 系列；40000 系列；
4. EPROM 64K bit
5. 4000 系列；C00 系列。
6.光耦

产品简介 ：
 
器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。
器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。
内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。
微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。
ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。
ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。

适用范围
 
维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
破译被抹去型号集成电路的真实型号。
烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
开发各类智能电子产品，调试程序。
检验新购器件的质量。
可测器件种类
 
TTL74、54系列。
TTL75、55系列。
CMOS40、45、14系列。
单片机系列。
EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。
光耦合器，数码管系列。
常用微机外围电路系列。
其它常用电路及用户提供系列。
运算放大器系列（单运放、双运放、四运放）。
三端稳压器系列（78XX，79XX，317，337）。

GT2200A模拟集成电路多参数测试仪简介:

GT2200A测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量 。
功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。

GT2200A模拟集成电路多参数测试仪产品特点：

1．根据IC型号自动切换测试，无需人工转接线更换测试盒。
2．具有自校准功能，测试参数基准稳定。
3．测试参数值读取快洁、直观。
4．测试操作简单。
5．它可以对线性IC的11项交直流参数进行测试及功能测试。
6．提供自适应测试方式：以样片为基准，对同型号IC 进行筛选测试进行快速筛选。

GT2200A模拟集成电路多参数测试仪基本使用方法: 

    先取一个“有代表”性(满足使用要求)的芯片进行“学习”，即将该芯片的各种应测数据保存起来。再对其他芯片进行有选择性的“比较”测试，即对您所关心的数据进行自动测量，并与“学习”数据进行比较，显示出优劣结果。操作十分简单，容易掌握；尤其是大批量筛选更为简单，优于样板的就通过，不必一一读取测量结果，并逐一查看其是否符合要求。若想看测量结果，也可用按键逐一翻看。
应该说它即可满足生产筛选的需要，也可满足科研开发使用。

(销售电话:010-51662244,82573333)